[發(fā)明專利]檢測光盤的使用狀態(tài)的方法及其裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200710141976.0
• 申請日: 2007-08-17
• 公開（公告）號: CN101256796A
• 公開（公告）日: 2008-09-03
• 發(fā)明（設計）人: 孫上斌;王福山
• 申請（專利權）人: 聯發(fā)科技股份有限公司
• 主分類號: G11B19/12
• 分類號: G11B19/12
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司
• 代理人: 任默聞

1.?一種檢測光盤的使用狀態(tài)的方法，其特征在于，所述方法包含有以下步驟：

存取所述光盤來產生射頻信號；

根據所述射頻信號來產生估計空白信號；

根據所述射頻信號來產生第一參考信號以指出所述射頻信號的直流電平；以及

根據所述估計空白信號以及所述第一參考信號來檢測所述光盤的真正覆寫區(qū)域。

2.?如權利要求1所述的檢測光盤的使用狀態(tài)的方法，其特征在于，所述檢測所述光盤的真正覆寫區(qū)域的步驟包含有：

利用固定或適應性的截波電平來切割所述第一參考信號以產生第二參考信號；以及

對所述估計空白信號以及所述第二參考信號執(zhí)行與邏輯運算來產生用來指出所述光盤的所述真正覆寫區(qū)域的第三參考信號。

3.?如權利要求2所述的檢測光盤的使用狀態(tài)的方法，其特征在于，所述方法另包含有以下步驟：

反轉所述第二參考信號來產生反轉第二參考信號；以及

對所述估計空白信號以及所述反轉第二參考信號執(zhí)行與邏輯運算來產生用來指出所述光盤的真正空白區(qū)域的第四參考信號。

4.?如權利要求1所述的檢測光盤的使用狀態(tài)的方法，其特征在于，所述方法另包含有以下步驟：

根據所述估計空白信號來確定第一條件是否成立，其中所述第一條件是用來辨別所述光盤的當前位置是否屬于真正空白區(qū)域的判定規(guī)則；以及

根據所述第一參考信號來確定第二條件是否成立，其中所述第二條件是用來辨別所述光盤的當前位置是否屬于所述真正覆寫區(qū)域的判定規(guī)則。

5.?如權利要求4所述的檢測光盤的使用狀態(tài)的方法，其特征在于，所述根據所述第一參考信號來確定第二條件是否成立的步驟另包含有：

檢查所述第一參考信號與第一電壓電平的差值是否大于參考值。

6.?如權利要求5所述的檢測光盤的使用狀態(tài)的方法，其特征在于，所述第一電壓電平是所述第一參考信號中對應于所述真正空白區(qū)域的電壓電平。

7.?如權利要求6所述的檢測光盤的使用狀態(tài)的方法，其特征在于，所述參考值是根據所述第一電壓電平以及第二電壓電平來確定，而所述第二電壓電平是所述第一參考信號中對應于數據區(qū)域的電壓電平。

8.?如權利要求7所述的檢測光盤的使用狀態(tài)的方法，其特征在于，所述方法另包含有以下步驟：

若所述第一條件成立而且所述第二條件不成立時，利用所述第一參考信號中對應于所述真正空白區(qū)域的當前電壓電平更新所述第一電壓電平來產生更新后第一電壓電平，并且根據所述更新后第一電壓電平以及所述第二電壓電平來更新所述參考值。

9.?如權利要求7所述的檢測光盤的使用狀態(tài)的方法，其特征在于，所述方法另包含有以下步驟：

若所述第一條件不成立時，利用所述第一參考信號中對應于所述數據區(qū)域的當前電壓電平更新所述第二電壓電平來產生更新后第二電壓電平，并且根據所述第一電壓電平以及所述更新后第二電壓電平來更新所述參考值。

10.?如權利要求7所述的檢測光盤的使用狀態(tài)的方法，其特征在于，所述參考值是根據所述第一電壓電平、所述第二電壓電平以及偏移值來確定。

11.?如權利要求10所述的檢測光盤的使用狀態(tài)的方法，其特征在于，所述方法另包含有：

若所述第一條件與所述第二條件均成立時，更新所述偏移值。

12.?如權利要求11所述的檢測光盤的使用狀態(tài)的方法，其特征在于，所述更新所述偏移值的步驟另包含有：

根據所述第一參考信號以及所述第二電壓電平來更新所述偏移值。

13.?如權利要求4所述的檢測光盤的使用狀態(tài)的方法，其特征在于，所述檢測所述光盤的真正覆寫區(qū)域的步驟包含有：

若所述第一條件與所述第二條件均成立時，確認所述光盤的當前位置屬于所述光盤的所述真正覆寫區(qū)域。

14.?如權利要求4所述的檢測光盤的使用狀態(tài)的方法，其特征在于，所述方法另包含有：

若所述第一條件成立而所述第二條件不成立時，確認所述光盤的當前位置屬于所述光盤的所述真正空白區(qū)域。