[發(fā)明專利]等離子體處理裝置用的載置臺以及等離子體處理裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200710140387.0 | 申請日: | 2007-08-10 |
| 公開(公告)號: | CN101123200A | 公開(公告)日: | 2008-02-13 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 輿石公;檜森慎司;松山昇一郎 | 申請(專利權(quán))人: | 東京毅力科創(chuàng)株式會社 |
| 主分類號: | H01L21/683 | 分類號: | H01L21/683;H01L21/67;H01L21/00;C23C16/458;C23C16/513;H01J37/32;H05H1/24 |
| 代理公司: | 北京紀(jì)凱知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人: | 龍淳 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 等離子體 處理 裝置 載置臺 以及 | ||
1.一種等離子體處理裝置用的載置臺,其用于在載置面上載置被處理基板,特征在于,包括:
導(dǎo)電體部件,連接于高頻電源,兼作為等離子體生成用或等離子體中的離子引入用的電極;
電介體層,以覆蓋該導(dǎo)電體部件的上面中央部的方式設(shè)置,用于使通過被處理基板向等離子體施加的高頻電場均勻;和
靜電卡盤,層積在該電介體層上,以高頻能夠通過其間的方式埋設(shè)著在載置臺的徑向上互相隔離并分割為多個的電極膜,其中,
所述電介體層的外邊緣,位于被分割的電極膜間的隔離區(qū)域內(nèi)部邊緣的正下方或更靠外側(cè)的位置,
被分割的電極膜相對于高頻相互絕緣。
2.如權(quán)利要求1所述的等離子體處理裝置用的載置臺,其特征在于:
所述電介體層,以越往下外邊緣越位于內(nèi)側(cè)的方式層積多層,
所述電極膜的分割數(shù)目,比電介體層的層數(shù)至少多一個。
3.一種等離子體處理裝置用的載置臺,其用于在載置面上載置被處理基板,特征在于,包括:
導(dǎo)電體部件,連接于高頻電源,兼作為等離子體生成用或等離子體中的離子引入用的電極;
電介體層,以覆蓋該導(dǎo)電體部件的上面中央部的方式設(shè)置,用于使通過被處理基板向等離子體施加的高頻電場均勻;以及
靜電卡盤,層積在該電介體層上,以高頻能夠通過的方式埋設(shè)著在對應(yīng)于載置臺中央部的位置形成有孔部的電極膜,其中,
所述電介體層,位于該孔部的下方。
4.如權(quán)利要求1~3中任一項所述的等離子體處理裝置用的載置臺,其特征在于:
所述電介體層形成為圓柱狀。
5.如權(quán)利要求1~3中任一項所述的等離子體處理裝置用的載置臺,其特征在于:
所述電介體層的厚度在周邊部小于中央部。
6.如權(quán)利要求1~5中任一項所述的等離子體處理裝置用的載置臺,其特征在于:
從所述高頻電源供給的高頻的頻率為13MHz以上。
7.一種等離子體處理裝置,其特征在于,包括:
對被處理基板進(jìn)行等離子體處理的處理容器;
將處理氣體導(dǎo)入該處理容器的處理氣體導(dǎo)入部;
設(shè)置在所述處理容器內(nèi)的如權(quán)利要求1~6中任一項所述的等離子體處理裝置用的載置臺;
以與該載置臺相對的方式設(shè)置在該載置臺的上方側(cè)的上部電極;和
用于對所述處理容器內(nèi)進(jìn)行真空排氣的單元。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





