[發明專利]自動分析裝置有效
| 申請號： | 200710140356.5 | 申請日： | 2007-08-09 |
| 公開（公告）號： | CN101135693A | 公開（公告）日： | 2008-03-05 |
| 發明（設計）人： | 粟田泰直;島田和廣;高木由充;折橋敏秀;松原茂樹 | 申請（專利權）人： | 株式會社日立高新技術 |
| 主分類號： | G01N35/00 | 分類號： | G01N35/00;G01N33/50 |
| 代理公司： | 北京銀龍知識產權代理有限公司 | 代理人： | 許靜 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 自動 分析 裝置 | ||
【權利要求書】：
1.一種自動分析裝置，具有載置多個試劑的試劑載置單元，其特征在于，
具有顯示單元，關于在該試劑載置單元上搭載的試劑，在同一畫面上和試劑的搭載位置的信息一起，至少顯示從試劑的剩余量的信息、試劑的有效期的信息、校準的有效時間的信息、精度管理的有效時間的信息中選出的一種以上的信息。
2.一種自動分析裝置，具有載置多個試劑的試劑載置單元，其特征在于，
具有顯示單元，關于在該試劑載置單元上搭載的試劑，在同一畫面上和試劑的搭載位置的信息一起，至少顯示從試劑的剩余量的信息、試劑的有效期的信息、校準的有效時間的信息、精度管理的有效時間的信息中選出的兩種以上的信息。
3.一種自動分析裝置，具有載置多個試劑的試劑載置單元，其特征在于，
具有顯示單元，關于在該試劑載置單元上搭載的試劑，在同一畫面上和試劑的搭載位置的信息一起，顯示試劑的剩余量的信息、試劑的有效期的信息、校準的有效時間的信息、精度管理的有效時間的信息。
4.根據權利要求1～3中任何一項所述的自動分析裝置，其特征在于，
所述試劑的搭載位置的信息，與在試劑載置單元上配置的物理位置對應地顯示試劑位置，并且，
遵照預定的分類，識別顯示所述試劑的剩余量的信息、試劑的有效期的信息、校準的有效時間的信息、精度管理的有效時間的信息。
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