[發明專利]用于檢測薄膜晶體管基底的缺陷的模塊和方法

無效

• 申請號: 200710139196.2
• 申請日: 2007-07-27
• 公開（公告）號: CN101114005A
• 公開（公告）日: 2008-01-30
• 發明（設計）人: 李洪雨;許命九;李鐘煥;金圣萬;李鐘赫
• 申請（專利權）人: 三星電子株式會社
• 主分類號: G01R31/02
• 分類號: G01R31/02;G01R19/00;G02F1/13;G09G3/36
• 代理公司: 北京銘碩知識產權代理有限公司
• 代理人: 郭鴻禧;韓素云

1.一種被構造為檢測薄膜晶體管基底的缺陷的模塊，其中，所述薄膜晶體管基底包括多條數據線、多條柵極線和多個像素電極，所述模塊包括：

數據信號發生器，用于向所述數據線提供測試數據信號；

運行信號發生器，用于向第一柵極驅動器和第二柵極驅動器提供運行信號，其中，每條柵極線被分為與所述第一柵極驅動器連接的第一部分和與所述第二柵極驅動器連接的第二部分；

檢測器，用于測量至少一個所述像素電極的電壓電平。

2.如權利要求1所述的模塊，其中，所述薄膜晶體管基底包括第一組數據焊盤和第二組數據焊盤以及第一測試焊盤和第二測試焊盤分，其中，所述第一組數據焊盤連接到第一組數據線，所述第二組數據焊盤連接到第二組數據線，所述第一測試焊盤和所述第二測試焊盤分別連接到所述第一組數據焊盤和所述第二組數據焊盤，其中，所述數據信號發生器用于產生第一測試數據信號和第二測試數據信號，其中，所述第一測試數據信號和所述第二測試數據信號將被分別提供到所述第一測試焊盤和所述第二測試焊盤。

3.如權利要求2所述的模塊，其中，所述數據信號發生器包括多個被構造為探針的輸出端，所述輸出端用于分別向所述第一測試焊盤和所述第二測試焊盤提供所述第一測試數據信號和所述第二測試數據信號。

4.如權利要求2所述的模塊，其中，所述第一測試數據信號和所述第二測試數據信號表現負電壓。

5.如權利要求2所述的模塊，其中，所述第一測試數據信號和所述第二測試數據信號表現彼此不同的電壓電平。

6.如權利要求1所述的模塊，其中，所述運行信號發生器用于分別向所述薄膜晶體管基底的起始信號焊盤、第一時鐘信號焊盤、第二時鐘信號焊盤和地信號焊盤提供起始信號、第一時鐘信號、第二時鐘信號和地信號。

7.如權利要求6所述的模塊，其中，所述運行信號發生器包括多個被構造為探針的輸出端，所述輸出端用于分別向所述起始信號焊盤、所述第一時鐘信號焊盤、所述第二時鐘信號焊盤和所述地信號焊盤提供所述起始信號、所述第一時鐘信號、所述第二時鐘信號和所述地信號。

8.如權利要求6所述的模塊，其中，所述第一柵極驅動器和所述第二柵極驅動器包括：

第一多個級，連接到第一組柵極線，并用于響應所述第一時鐘信號而向所述第一組柵極線提供柵極電源；

第二多個級，連接到第二組柵極線，并用于響應所述第二時鐘信號而向所述第二組柵極線提供柵極電源。

9.如權利要求6所述的模塊，其中，用一個信號來提供所述起始信號和所述地信號。

10.如權利要求6所述的模塊，其中，所述起始信號和所述地信號中的每個都包括單個脈沖。

11.如權利要求6所述的模塊，其中，所述起始信號和所述地信號中的每個都包括多個脈沖。

12.如權利要求6所述的模塊，其中，所述第一時鐘信號和所述第二時鐘信號中的每個都包括單個脈沖。

13.如權利要求6所述的模塊，其中，所述運行信號發生器用于同時提供所述第一時鐘信號和所述第二時鐘信號。

14.如權利要求13所述的模塊，其中，所述運行信號發生器用于同時提供所述起始信號和所述地信號。

15.如權利要求6所述的模塊，其中，所述運行信號發生器用于順序地提供所述第一時鐘信號和所述第二時鐘信號。

16.如權利要求15所述的模塊，其中，所述運行信號發生器用于同時提供所述第一時鐘信號、所述起始信號和所述地信號，還用于同時提供所述第二時鐘信號、所述起始信號和所述地信號。

17.如權利要求2所述的模塊，其中，所述薄膜晶體管基底包括在所述柵極線和所述數據線的交叉處的多個薄膜晶體管和連接到所述薄膜晶體管的多個像素電極，其中，所述薄膜晶體管用于通過響應所述第一時鐘信號和所述第二時鐘信號被提供到所述柵極線的柵極電源而被導通，其中，所述像素電極用于通過所述薄膜晶體管而被充有所述第一測試數據信號和所述第二測試數據信號的電壓。