[發明專利]繪制裝置和繪制方法無效
申請號: | 200710137145.6 | 申請日: | 2007-07-30 |
公開(公告)號: | CN101135862A | 公開(公告)日: | 2008-03-05 |
發明(設計)人: | 平島卓哉 | 申請(專利權)人: | 富士膠片株式會社 |
主分類號: | G03F7/20 | 分類號: | G03F7/20;H04N1/04;H05K3/00 |
代理公司: | 中科專利商標代理有限責任公司 | 代理人: | 張成新 |
地址: | 日本國*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索關鍵詞: | 繪制 裝置 方法 | ||
1.一種繪制裝置,包括:
設定部,所述設定部設定:標準標記位置數據,所述標準標記位置數據涉及在各預定繪制區域處繪制多個圖像的繪制介質上設置多個標準標記的位置;涉及多個繪制區域的位置的繪制位置數據;和顯示所述多個標準標記的位置和所述多個繪制區域之間的對應關系的標準標記對應數據;
檢測部,所述檢測部檢測所述多個標準標記的位置,并獲得顯示檢測的標準標記的位置的檢測位置數據;
校正部,所述校正部根據所述標準標記位置數據、所述繪制位置數據、所述標準標記對應數據和所述檢測位置數據校正所述多個繪制區域的繪制位置;和
繪制部,所述繪制部在所述繪制介質上的每個經校正的繪制位置處繪制所述多個圖像。
2.根據權利要求1所述的繪制裝置,其中所述校正部設有運算部,根據與由所述標準標記對應數據設定的繪制區域相對應的標準標記的位置和所述標準標記的檢測位置,所述運算部計算用于校正繪制區域的繪制位置的校正參數;和根據所述校正參數計算所述繪制區域的所述繪制位置的計算部。
3.根據權利要求1所述的繪制裝置,其中所述設定部被構造成進一步設定涉及所述多個標準標記的形狀的標準標記形狀數據。
4.根據權利要求2所述的繪制裝置,其中所述設定部被構造成進一步設定涉及所述多個標準標記的形狀的標準標記形狀數據。
5.根據權利要求1所述的繪制裝置,其中所述繪制部是在所述繪制介質上的每個經校正的繪制位置處曝光所述多個圖像的曝光部。
6.根據權利要求3所述的繪制裝置,其中所述標準標記位置數據、所述繪制位置數據和所述標準標記形狀數據每個被獨立地設定。
7.根據權利要求2所述的繪制裝置,其中所述校正參數包括所述繪制區域的移位量、旋轉量和比例比率。
8.根據權利要求2所述的繪制裝置,其中對應于一個繪制區域的標準標記的數目是兩個或更多個中的任何給定數目。
9.一種繪制方法,包括步驟:
設定標準標記位置數據,所述標準標記位置數據涉及在各預定繪制區域處繪制多個圖像的繪制介質上設置多個標準標記的位置;涉及多個繪制區域的位置的繪制位置數據;和顯示所述多個標準標記的位置和所述多個繪圖區域之間的對應關系的標準標記對應數據;
檢測所述多個標準標記的位置,并獲得顯示檢測的標準標記的位置的檢測位置數據;
根據所述標準標記位置數據、所述繪制位置數據、所述標準標記對應數據和所述檢測位置數據,校正所述多個繪制區域的繪制位置;和
在所述繪制介質上的每個經校正的繪制位置處繪制所述多個圖像。
10.一種繪制方法,包括步驟:
準備涉及在繪制介質上設置的多個標準標記的位置的標準標記位置數據;涉及多個繪制區域的位置的繪制位置數據;和顯示所述多個標準標記的位置和所述多個繪制區域之間的對應關系的標準標記對應數據;
檢測所述多個標準標記的位置,并獲得顯示檢測的標準標記的位置的檢測位置數據;
根據所述標準標記位置數據、所述繪制位置數據、所述標準標記對應數據和所述檢測位置數據,校正與圖像數據中的所述多個繪制區域相對應的區域;和
根據校正的圖像數據在所述繪制介質上進行繪制。
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