[發(fā)明專利]無線標(biāo)簽檢查方法

無效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 200710130503.0
• 申請(qǐng)日: 2007-07-09
• 公開（公告）號(hào): CN101105834A
• 公開（公告）日: 2008-01-16
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 保里房生
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 東芝泰格有限公司
• 主分類號(hào): G06K7/00
• 分類號(hào): G06K7/00;G06K1/12
• 代理公司: 北京康信知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司
• 代理人: 余剛;尚志峰

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及用于檢查無線標(biāo)簽動(dòng)作的檢查方法，特別涉及檢查時(shí)減少從無線標(biāo)簽發(fā)射的電波的無線標(biāo)簽檢查方法。

背景技術(shù)

現(xiàn)有技術(shù)的無線標(biāo)簽檢查方法，是使無線標(biāo)簽的天線整體和檢查裝置的無線標(biāo)簽的讀寫器的天線進(jìn)行電磁耦合。但是，檢查時(shí)產(chǎn)生磁場(chǎng)并發(fā)射電波，在無線標(biāo)簽處于密集狀態(tài)下進(jìn)行檢查時(shí)，存在無法判斷檢查裝置接收的電波是來自作為要檢查的無線標(biāo)簽發(fā)射的，還是來自靠近其的無線標(biāo)簽發(fā)射的問題。該問題在使用可遠(yuǎn)距離通信的電波型天線時(shí)更為明顯。

作為與此相關(guān)的現(xiàn)有技術(shù)的例子，例如有日本特開2003-263611號(hào)公報(bào)(以下稱為專利文獻(xiàn)1)。專利文獻(xiàn)1中記載了這樣的技術(shù)：使讀寫器的天線線圈和無線標(biāo)簽的天線線圈進(jìn)行電磁耦合，讀寫器通過無線標(biāo)簽的天線的電磁耦合接收根據(jù)阻抗變化而變化的阻抗信號(hào)，根據(jù)讀寫器接收的該阻抗信號(hào)判斷無線標(biāo)簽是否處于可讀寫狀態(tài)。

如該例所示的現(xiàn)有技術(shù)中沒有考慮到從無線標(biāo)簽發(fā)射的電波，更沒有意識(shí)到從密集狀態(tài)的無線標(biāo)簽中讀寫指定的無線標(biāo)簽的問題。因此，在現(xiàn)有技術(shù)中存在不能減少無線標(biāo)簽信息的讀寫中的電波遺漏的問題。

而且，在無線標(biāo)簽的制造工序中的無線標(biāo)簽的檢查中，檢查時(shí)雖采取了在要檢查的無線標(biāo)簽的周圍設(shè)置電波屏蔽板等的對(duì)策，但存在無法有效屏蔽電波的遺漏并且作業(yè)效率不高的問題。

發(fā)明內(nèi)容

為了解決上述問題，本發(fā)明提供了一種在無線標(biāo)簽的讀寫時(shí)控制不需要的電波的發(fā)射的無線標(biāo)簽檢查方法。

本發(fā)明的第一方面提供的無線標(biāo)簽檢查方法，包括以下步驟：使要檢查的無線標(biāo)簽的天線的一部分和連接至讀寫器的檢查用天線的一部分非接觸地疊層(積)，同時(shí)使所述檢查用天線和所述無線標(biāo)簽的天線進(jìn)行電磁耦合；使所述無線標(biāo)簽的天線的剩余部分的一部分或全部和端部為終端的終端天線的一部分非接觸地疊層，同時(shí)使所述終端天線和所述無線標(biāo)簽的天線進(jìn)行電磁耦合；以及通過所述讀寫器從所述要檢查的無線標(biāo)簽讀取信息和/或?qū)懭胄畔ⅲ瑥亩鴻z查無線標(biāo)簽的動(dòng)作。

此外，根據(jù)本發(fā)明的第二方面的無線標(biāo)簽檢查方法，包括以下步驟：使所述檢查用天線和所述終端天線非接觸地疊層為兩層；使要檢查的無線標(biāo)簽的天線的一部分或全部和連接至讀寫器的檢查用天線的一部分或全部非接觸地疊層，同時(shí)使所述檢查用天線和所述無線標(biāo)簽的天線進(jìn)行電磁耦合；使所述要檢查的無線標(biāo)簽的天線的一部分或全部和端部為終端的終端天線的一部分非接觸地疊層，同時(shí)使所述終端天線和所述無線標(biāo)簽的天線進(jìn)行電磁耦合；以及通過所述讀寫器從所述要檢查的無線標(biāo)簽讀取信息和/或?qū)懭胄畔ⅲ瑥亩鴻z查無線標(biāo)簽的動(dòng)作。

此外，根據(jù)本發(fā)明第三方面的無線標(biāo)簽檢查方法，包括以下步驟：使要檢查的無線標(biāo)簽的天線所形成的封閉平面或開放平面的一部分和連接至讀寫器的檢查用天線所形成的封閉平面或開放平面的一部分進(jìn)行非接觸地疊層，同時(shí)使檢查用天線和無線標(biāo)簽的天線進(jìn)行電磁耦合；使要檢查的無線標(biāo)簽的天線所形成的封閉平面或開放平面的剩余部分的一部分或全部和端部為終端的終端天線所形成的封閉平面或開放平面的一部分進(jìn)行非接觸地疊層，同時(shí)使終端天線和無線標(biāo)簽的天線進(jìn)行電磁耦合；以及通過讀寫器從要檢查的無線標(biāo)簽讀取信息和/或?qū)懭胄畔ⅲ瑥亩鴻z查無線標(biāo)簽的動(dòng)作。

此外，根據(jù)本發(fā)明第四方面的無線標(biāo)簽檢查方法，使所述檢查用天線所形成的封閉平面或開放平面和所述終端天線所形成的封閉平面或開放平面非接觸地疊層為兩層；使要檢查的無線標(biāo)簽的天線所形成的封閉平面或開放平面的一部分或全部和連接至讀寫器的檢查用天線所形成的封閉平面或開放平面的一部分或全部非接觸地疊層，同時(shí)使所述檢查用天線和所述無線標(biāo)簽的天線進(jìn)行電磁耦合；使所述要檢查的無線標(biāo)簽的天線所形成的封閉平面或開放平面的一部分或全部和端部為終端的終端天線所形成的封閉平面或開放平面的一部分非接觸地疊層，同時(shí)使所述終端天線和所述無線標(biāo)簽的天線進(jìn)行電磁耦合；以及通過所述讀寫器從所述要檢查的無線標(biāo)簽讀取信息和/或?qū)懭胄畔ⅲ瑥亩鴻z查無線標(biāo)簽的動(dòng)作。

附圖說明

圖1A是實(shí)施實(shí)施方式一的無線標(biāo)簽檢查方法的裝置的剖面圖；

圖1B是檢查用天線所形成的開放平面的例子的示意圖；

圖1C是終端天線所形成的開放平面的例子的示意圖；

圖1D是檢查無線標(biāo)簽的天線所形成的封閉平面的例子的示意圖；

圖2是實(shí)施實(shí)施方式一的無線標(biāo)簽檢查方法的裝置的俯視圖；

圖3是實(shí)施實(shí)施方式二的無線標(biāo)簽檢查方法的裝置的剖面圖；