[發明專利]具有自測試功能的存儲器控制器及其測試方法

有效

• 申請號: 200710129121.6
• 申請日: 2007-07-11
• 公開（公告）號: CN101105980A
• 公開（公告）日: 2008-01-16
• 發明（設計）人: 蔡官燁
• 申請（專利權）人: 三星電子株式會社
• 主分類號: G11C29/12
• 分類號: G11C29/12
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所
• 代理人: 邵亞麗;邸萬奎

對相關申請的交叉引用

此申請在35?USC§119下要求于2006年7月11日提交至韓國知識產權局(KIPO)的韓國專利申請第10-2006-0064823號的優先權，通過引用而將其全部內容合并于此。

技術領域

本發明涉及存儲器控制器，并且，更具體地，涉及具有自測試功能的存儲器控制器、以及測試存儲器控制器的方法。

背景技術

通常，半導體存儲器件用于存儲數據，并在諸如計算機、移動通信裝置等的各種數字裝置中被采用。半導體存儲器件可包括隨機存取存儲器(RAM)器件和只讀存儲器(ROM)器件。

RAM器件是在斷電時丟失所存儲的數據的一種易失性存儲器件，并且，還可包括需要周期性的刷新操作的動態RAM(DRAM)、或采用觸發器(flipflop)結構的靜態RAM(SRAM)。

通常，DRAM器件采用各種結構來增加操作速度，并需要存儲器控制器，以在計算機系統中適當地操作。

然而，由于諸如雙倍數據速率(DDR)DRAM和DDR2?DRAM的具有高操作速度的各種存儲器件的引入，測試存儲器控制器是非常困難的。并且，當外部存儲器控制器測試裝置被用于存儲器控制器測試時，測試存儲器控制器所需的時間增加。

發明內容

因而，提供本發明，以基本上消除由于相關技術的限制和缺陷而造成的一個或多個問題。

本發明的一些實施例提供了具有能夠執行快速自測試的自測試功能的存儲器控制器。

本發明的其它實施例提供了具有能夠執行快速自測試的自測試功能的雙倍數據速率(DDR)存儲器控制器。

本發明的其它實施例提供了測試能夠執行快速自測試的存儲器控制器的方法。

根據一個方面，本發明針對于具有自測試功能的存儲器控制器，其包括：測試控制單元，其被配置為在測試模式中生成測試數據；數據傳送單元，其被配置為生成數據讀取定時信號，以傳送數據讀取定時信號和與數據讀取定時信號同步的所生成的測試數據；以及數據輸入/輸出(I/O)單元，其被配置為將所傳送的測試數據和所傳送的數據讀取定時信號反饋到數據傳送單元，以便數據傳送單元接收反饋測試數據和反饋數據讀取定時信號。數據傳送單元基于反饋數據讀取定時信號而讀取反饋測試數據，并且，測試控制單元將反饋測試數據與所生成的測試數據比較。

在非測試模式中，數據傳送單元可生成數據寫入定時信號，并可傳送所生成的數據寫入定時信號和與所生成的數據寫入定時信號同步的非測試數據。

數據傳送單元可包括：數據定時塊，其被配置為生成數據讀取定時信號，并被配置為傳送所生成的數據讀取定時信號；以及數據寫入塊，其被配置為將與所生成的數據讀取定時信號同步的所生成的測試數據傳送到數據I/O單元。

數據傳送單元還可包括：數據讀取塊，其被配置為從數據I/O單元接收反饋測試數據和反饋數據讀取定時信號，并被配置為基于反饋數據讀取定時信號而讀取所接收的反饋測試數據。

在一個示例實施例中，數據I/O單元可直接反饋所傳送的測試數據和所傳送的數據讀取定時信號。

在另一個示例實施例中，數據I/O單元可反饋要輸出到外部源的所傳送的測試數據和要輸出到外部源的所傳送的數據讀取定時信號。例如，外部源可對應于存儲器件和存儲器控制器測試裝置之一。

數據I/O單元可包括：數據反饋電路，其被配置為反饋要輸出到外部源的所傳送的測試數據；以及數據定時反饋電路，其被配置為反饋要輸出到外部源的所傳送的數據讀取定時信號。

數據I/O單元可直接反饋所傳送的測試數據和所傳送的數據讀取定時信號，或者，可基于從測試控制單元接收的內部環路控制信號，而反饋要輸出到外部源的所傳送的測試數據和要輸出到外部源的所傳送的數據讀取定時信號。

數據I/O單元可包括：選擇單元，其被配置為基于內部環路控制信號而選擇第一信號和第二信號之一，其中，第一信號對應于直接反饋測試數據和直接反饋數據讀取定時信號，而第二信號對應于要輸出到外部源的所傳送的測試數據和要輸出到外部源的所傳送的數據讀取定時信號。

數據I/O單元可包括：數據反饋電路，其被配置為反饋要輸出到外部源的所生成的測試數據；以及數據定時反饋電路，其被配置為反饋要輸出到外部源的所生成的數據讀取定時信號。

測試控制單元可基于從外部源接收的測試控制信號而確定操作模式，該操作模式包括測試模式和非測試模式之一。例如，外部源可對應于中央處理單元(CPU)和存儲器控制器測試裝置之一。