[發明專利]用于修復平面顯示面板的方法

有效

• 申請號: 200710123474.5
• 申請日: 2007-06-25
• 公開（公告）號: CN101174035A
• 公開（公告）日: 2008-05-07
• 發明（設計）人: 鄭泳泰
• 申請（專利權）人: 查目&CI股份公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司
• 代理人: 楊生平;楊林森

技術領域

本發明涉及一種修復平面顯示面板的方法，更具體地，涉及這樣一種用于修復平面顯示面板的方法，其中，使用激光將單元修復處理之后產生的亮像素轉換成暗像素，以便降低產品缺陷率，使產品利用率提高。而且，為了提高處理效率，在轉換成暗像素的處理之后當光發射(lighttransmission)低于特定值時，替代使用激光將亮像素轉換成暗像素的處理，使用分配器(dispenser)將修復處理應用于還沒有轉換成暗像素的紅(R)、綠(G)、藍(B)和黑(BK)像素，從而優化整個修復處理。

背景技術

通常，顯示器被用作人與電子設備之間的接口。此類顯示器作為信息顯示設備，把從各類電子設備輸出的電子信息信號轉換成光信息信號，以便于人從視覺上識別此類信息。在這些顯示器中，平面顯示面板包括液晶顯示器(LCD)、等離子體顯示面板(PDP)、場發射顯示器(FED)、有機發光二極管(OLED)等。

圖1是說明傳統薄膜晶體管液晶顯示器(TFT-LCD)的橫截面圖。

如圖1中所示，該TFT-LCD被配置成包括：TFT陣列襯底、偏振器、像素電極、累積電容、定向層(alignment?layer)、密封劑、間隔物(spacer)、TFT、液晶、公共電極(ITO)、濾色器、黑矩陣(black?matrix)等。

液晶(LC)單元處理被包括在制造作為平面顯示面板之一的TFT-LCD的整個處理中。

該LC單元處理指的是制造單位LC單元的處理，其中，將驅動電路提供給已完成的TFT襯底和濾色器襯底，使得可以通過信號來驅動單位LC單元。

LC單元處理的特征在于：與TFT處理或濾色器處理相比，正常情況下不需要重復處理。整個LC單元處理可以粗略地分為：定向層形成處理，用于定向LC分子；單元間隙形成處理；液晶注射處理；以及偏振膜附著處理。

各個處理具有不同特點，并因此需要不同的工藝，如聚合物薄膜形成處理、摩擦處理、使用真空的液晶注射處理等。

在液晶單元處理之前，執行單元修復處理來修復LC單元。

然而，在傳統技術中沒有用于修復在單元修復處理之后產生的亮像素的方法。所以，需要一種用于修復亮像素的方法。而且，應當提出一種可以優化整個處理的修復處理。

發明內容

因此，本發明針對上述問題而被提出，并且，本發明的一個目的是提供一種用于修復平面顯示面板的方法，因為使用激光將單元修復處理之后產生的亮像素轉換成暗像素，其可以降低產品缺陷率，從而使產品利用率提高。該方法也可以優化整個修復處理，這是因為在將亮像素轉換成暗像素之后當光發射低于特定值時，使用分配器將修復處理應用于還沒有轉換成暗像素的紅(R)、綠(G)、藍(B)和黑(BK)像素，來替代使用激光將亮像素轉換成暗像素的處理，從而提高了處理效率。

根據本發明的一個方面，上述和其他目的可以通過提供一種用于修復平面顯示面板的方法來實現，所述方法包括：執行單元修復處理；確定在單元修復處理之后是否已經產生亮缺陷；當已經產生亮缺陷時，執行修復處理，以便將亮像素轉換成暗像素；確定在修復處理之后光發射是否低于特定值；以及當光發射低于特定值時，使用分配器來修復還沒有轉換成暗像素的紅(R)、綠(G)、藍(B)和黑(BK)像素。

優選地，確定是否已經產生亮缺陷的步驟確定當由于一個或多個原因而產生缺陷時亮缺陷是否已經出現，所述一個或多個原因是：液晶內的粒子、柵極開路(gate?open)、像素與數據線間短路、a-Si殘留、像素通道(pixel?channel)短路、TFT特性差、跨數據線的像素間短路、像素下的數據線殘留、沒有接觸孔、S/D開路以及跨柵極線的像素間短路。

優選地，執行修復處理的步驟是使用激光來執行的。

優選地，當光發射超過特定值時，執行修復處理的步驟被再次執行。

附圖說明

根據以下結合附圖的詳細描述，本發明的上述和其他目的、特征以及其他優勢將得到更清楚地理解，在附圖中：

圖1是說明傳統平面顯示面板的橫截面圖；

圖2是描述根據本發明的一個實施例的用于修復平面顯示面板的方法的流程圖；

圖3是說明由于平面顯示面板上的粒子而產生缺陷的一個例子的橫截面圖，該缺陷可以通過圖2的方法來解決；

圖4是說明平面顯示面板上產生的各類缺陷的一個例子的頂視圖，這些缺陷可以通過圖2的方法來解決；

圖5是說明應用圖2的用于修復平面顯示面板的方法的例子的橫截面圖；