[發明專利]寬帶接入系統單板吞吐量性能的測試方法和裝置有效
| 申請號: | 200710112466.0 | 申請日: | 2007-06-26 |
| 公開(公告)號: | CN101083570A | 公開(公告)日: | 2007-12-05 |
| 發明(設計)人: | 吳楠;張海林 | 申請(專利權)人: | 中興通訊股份有限公司 |
| 主分類號: | H04L12/26 | 分類號: | H04L12/26 |
| 代理公司: | 北京康信知識產權代理有限責任公司 | 代理人: | 尚志峰;吳孟秋 |
| 地址: | 518057廣東省深圳市南*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 寬帶接入 系統 單板 吞吐量 性能 測試 方法 裝置 | ||
技術領域
本發明涉及寬帶接入系統硬件單板測試領域,更具體地,涉及一種寬帶接入系統單板吞吐量性能的測試方法和裝置。
背景技術
對于數據環回功能,一般對于寬帶接入系統硬件單板,其硬件組件主要由兩個部件組成,即業務處理器和用戶側接入單元,數據環回功能指的是在完成用戶側接入功能的接入單元上,面對業務處理器所提供的數據環回功能,它的主要作用是把業務處理器發送到用戶側接入單元上的數據包,無條件的進行反向發送,通常數據環回功能是用來進行聯通性測試使用。用戶側接入單元的數字處理部分器件一般是DSP(Digital?Signal?Processor,數字信號處理芯片,以下簡稱DSP)
單板吞吐量,即單板所有端口可以同時支持的上、下行最大流量限額,是衡量一個單板處理能力的主要性能指標,一般需要專門的流量測試設備并連接大量終端進行測試。其關鍵考驗的是業務處理器每秒鐘所能處理的數據包個數和能力。
以往開發人員在對一塊新型單板設計完成后,總是要先測試一下該單板的整板吞吐量,檢查單板交換系統是否可以達到設計要求,而現實中往往是開發人員很難找到那么多終端設備供其測試。測試人員雖然會有一些終端設備供平時測試,但在測試任務比較多的時候,會出現測試終端短缺的情況。或則在無測試終端的情況下,吞吐量測試則無法完成。并且搭建這樣一個測試環境復雜,定位故障涉及部分比較多,測試結果也受到終端等測試環境比較大的影響,容易浪費時間,降低效率。
目前在業界中,還沒有提出什么有效的方法,或者說沒有意識到這個問題,只是靠購買設備來解決。
發明內容
考慮到上述問題而做出本發明,為此,本發明所要解決的技術問題在于,提供一種簡單有效、在不需要連接終端的情況下測試寬帶接入系統單板吞吐量性能的方法和裝置,降低測試復雜度,提高了故障定位效率。
為了實現上述目的,根據本發明的一個方面,提供了一種寬帶接入系統單板吞吐量性能的測試方法,包括以下步驟:
步驟S102,將下行端口和若干個用戶端口中的每一個各配置在一個VLAN(Virtual?LAN,虛擬局域網)中,構成若干個下行VLAN,用戶端口配置為無VLAN標簽模式;將上行端口和若干個用戶端口一起配置在一個VLAN中,構成一個上行VLAN,上行VLAN區別于下行VLAN,且將若干個用戶端口的端口VLAN標識均配置為對應上行VLAN;并在若干個用戶端口處的數據環回部件中配置數字環回功能,以及
步驟S104,測試從下行端口通過數據環回部件返回到上行端口的信號。
步驟S104包括:數據下行步驟,信號從下行端口經由下行VLAN傳送到對應的用戶端口;數據環回步驟,利用流經下行VLAN的信號在數據環回部件中實現數字環回;以及數據上行步驟,通過數字環回的信號經由上行VLAN傳送到上行端口。
在數據下行步驟中可將下行VLAN的洪泛功能打開
在數據上行步驟中上行VLAN可啟用專用VLAN功能。
上行和下行端口位于系統的控制交換板上,用戶端口可位于系統的用戶板上,控制交換板和用戶板通過內聯端口相連。
上行和下行端口可以是位于系統的用戶板上的同一個端口。
為了實現上述目的,根據本發明的另一方面,提供了一種寬帶接入系統單板吞吐量性能的測試裝置,包括:
測試裝置,用于發送用于測試的信號,并接收測試結果;
連接裝置,用于實現從測試裝置到用戶端口之間的網絡連接,其包括若干個下行VLAN和一個上行VLAN,下行VLAN和上行VLAN彼此不同,將下行端口和若干個用戶端口中的每一個配置在一個VLAN中而構成若干個下行VLAN,用戶端口配置為無VLAN標簽模式;將上行端口和若干個用戶端口一起配置在一個VLAN中而構成一個上行VLAN,且用戶端口的端口VLAN標識均配置為對應上行VLAN;
數據環回部件,設置在用戶端口處,用于實現數據環回功能,以使來自下行端口的信號通過數據環回部件返回到上行端口。
上行和下行端口位于系統的控制交換板上,用戶端口位于系統的用戶板上,控制交換板和用戶板通過內聯端口相連。
上行和下行端口是位于系統的用戶板上的同一個端口。
通過采用本發明的方法和裝置,降低測試復雜度的效果,節省了購置大量終端的成本,提高了定位故障的效率。
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