[發明專利]解調預刻槽地址符元裝置及方法與解碼預刻凹坑符元裝置

無效

• 申請號: 200710109672.6
• 申請日: 2007-06-05
• 公開（公告）號: CN101086860A
• 公開（公告）日: 2007-12-12
• 發明（設計）人: 謝秉諭;鄭裕;周書弘;何榮峰
• 申請（專利權）人: 聯發科技股份有限公司
• 主分類號: G11B7/005
• 分類號: G11B7/005
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司
• 代理人: 任默聞

1.一種解調預刻槽地址符元的裝置，其中所述的預刻槽地址符元包含于光盤片的一擺動信號中，所述的預刻槽地址符元包含依據多種排列型式其中之一進行排列的多個預刻槽地址位，所述的裝置包括：

一擺動信號產生模塊，擷取由所述的光盤片產生的一擺動信號；

一參考擺動信號產生器，產生一參考擺動信號，所述的參考擺動信號的頻率及相位與所述的擺動信號的正擺動周期的基本頻率及相位相同；

一波形差異測量模塊，耦接至所述的擺動信號產生模塊及所述的參考擺動信號產生器，測量所述的擺動信號及所述的參考擺動信號間的差異，以得到一差異測量值，其中所述的這些差異測量值分別對應所述的這些預刻槽地址位；以及

一符元型式匹配模塊，耦接至所述的波形差異測量模塊，依據所述的這些波形差異測量值比較所述的這些預刻槽地址位符合所述的這些排列型式的機率，而決定所述的預刻槽地址符元。

2.根據權利要求1所述的解調預刻槽地址符元的裝置，其特征在于，所述的波形差異測量模塊包括：

一相位比較器，耦接至所述的擺動信號產生模塊與所述的參考擺動信號產生器，比較所述的擺動信號及所述的參考擺動信號間的相位以得到一相位差信號；以及

一計數器，耦接至所述的相位比較器，計數所述的相位差信號在所述的參考擺動信號每一擺動信號周期中達到高電壓的時間長度，以產生對應于所述的這些預刻槽地址位的所述的這些差異測量值。

3.根據權利要求2所述的解調預刻槽地址符元的裝置，其特征在于，所述的計數器依據一時鐘信號計數所述的相位差信號在所述的參考擺動信號每一擺動信號周期中達到高電壓的時間長度，其中所述的時鐘信號的頻率高于所述的參考擺動信號的頻率。

4.根據權利要求1所述的解調預刻槽地址符元的裝置，其特征在于，所述的符元型式匹配模塊包括：

一收集器，耦接至所述的波形差異測量模塊，收集對應于所述的預刻槽地址符元的所述的這些差異測量值；

一關聯器陣列，耦接至所述的收集器，將所述的這些差異測量值分別與由所述的這些預刻槽地址位的所述的這些排列型式產生的正負符號相乘以得到多個相關值，并加總對應于各排列型式的所述的這些相關值，以分別得到所述的預刻槽地址符元對應所述的這些排列型式的機率；以及

一最大可能比較模塊，耦接至所述的關聯器陣列，比較所述的預刻槽地址符元對應所述的這些排列型式的所述的這些機率大小，以決定所述的預刻槽地址符元。

5.根據權利要求4所述的解調預刻槽地址符元的裝置，其特征在于，所述的關聯器陣列產生分別對應于所述的這些排列型式的所述的這些機率，而所述的最大可能比較模塊包括：

多個比較器，分別兩兩比較所述的這些機率以產生指示較大的所述的這些機率的多個比較結果；以及

多個與門，對所述的這些比較結果中的兩個進行AND運算，以決定所述的預刻槽地址符元對應所述的這些排列型式中的哪一種。

6.根據權利要求1所述的解調預刻槽地址符元的裝置，其特征在于，所述的參考擺動信號產生器為一鎖相回路，所述的鎖相回路鎖定并重復輸出所述的擺動信號的正擺動周期以產生所述的參考擺動信號。

7.根據權利要求1所述的解調預刻槽地址符元的裝置，其特征在于，所述的擺動信號產生模塊為一推挽式處理器，所述的推挽式處理器從由所述的光盤片的一軌道一側反射的一第一反射信號強度減去由所述的軌道另一側反射的一第二反射信號強度而得到所述的擺動信號。

8.根據權利要求1所述的解調預刻槽地址符元的裝置，其特征在于，所述的光盤片的格式為HD-DVD，所述的預刻槽地址符元僅包含一預刻槽地址位，所述的預刻槽地址位可為正相位擺動周期或負相位擺動周期，而所述的符元型式匹配模塊為一截剪器，依據單一差異量側值判斷所述的預刻槽地址符元。

9.根據權利要求1所述的解調預刻槽地址符元的裝置，其特征在于，所述的光盤片的格式為DVD+R或DVD+RW，所述的預刻槽地址符元包含8個預刻槽地址位，而所述的這些排列型式包括同步符元、數據0符元、及數據1符元對應的排列型式。