[發明專利]數控展成磨齒機及展成磨齒機的數控裝置和驅動方法有效
| 申請號: | 200710109545.6 | 申請日: | 2007-06-25 |
| 公開(公告)號: | CN101332524A | 公開(公告)日: | 2008-12-31 |
| 發明(設計)人: | 朱永剛 | 申請(專利權)人: | 西門子工廠自動化工程有限公司 |
| 主分類號: | B23F5/02 | 分類號: | B23F5/02;B23Q5/00;B23Q1/25;G05B19/18 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務所 | 代理人: | 張亮 |
| 地址: | 100016北京市*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 數控 展成磨齒機 裝置 驅動 方法 | ||
1.一種數控展成磨齒機,包括:工作臺底座(11)、工作臺滑座(12)、工作臺(13)、立柱(15)以及砂輪組件,
所述工作臺滑座(12)可滑動地安裝于工作臺底座(11)上,所述工作臺(13)安裝于工作臺滑座(12)上用來放置待加工齒輪,所述工作臺(13)可繞一旋轉軸線旋轉;
其特征在于,所述數控展成磨齒機進一步包括:第一電機(31)、第二電機(32)和數控裝置(30),其中,
所述數控裝置(30)與所述第一電機(31)和所述第二電機(32)相連,用于根據待加工齒輪的漸開線軌跡,計算工作臺滑座(12)的位移與工作臺(13)旋轉角度的展成比值,并控制所述第一電機(31)和所述第二電機(32)分別驅動工作臺滑座(12)和工作臺(13)進行符合所述展成比值的展成運動;
進一步包括與所述數控裝置(30)相連的第一位置測量裝置(33),用于測量所述工作臺(13)在所述工作臺滑座(12)帶動下的直線位移,得到第一測量結果,將第一測量結果輸出給所述數控裝置(30);
所述數控裝置(30)根據第一測量結果確定工作臺滑座(12)的位移補償;
進一步包括與所述數控裝置(30)相連的第二位置測量裝置(34),用于測量所述工作臺(13)繞所述旋轉軸線的擺動角度,得到第二測量結果,將第二測量結果輸出給所述數控裝置(30);
所述數控裝置(30)根據第二測量結果確定工作臺(13)的旋轉角度補償;
所述數控裝置(30)還包括軌跡運算單元(301)、控制輸出單元(303)和反饋補償單元(302),其中,
所述軌跡運算單元(301)根據待加工齒輪的漸開線軌跡,計算得到工作臺滑座(12)的位移與工作臺(13)旋轉角度的展成比值;
所述反饋補償單元(302)與所述第一位置測量裝置(33)和所述第二位置測量裝置(34)相連,分別根據第一測量結果和第二測量結果確定工作臺滑座(12)的位移補償和工作臺(13)的旋轉角度補償;
所述軌跡運算單元(301)進一步與所述反饋補償單元(302)相連,根據確定的所述位移補償和旋轉角度補償,調整計算得到的所述展成比值;
所述控制輸出單元(303)與所述軌跡運算單元(301)相連,控制所述第一電機(31)和所述第二電機(32)分別驅動工作臺滑座(12)和工作臺(13)進行符合所述展成比值的展成運動。
2.如權利要求1所述的數控展成磨齒機,其特征在于,所述第一位置測量裝置(33)為光柵尺或與第一電機(31)相連的編碼器。
3.如權利要求1所述的數控展成磨齒機,其特征在于,所述第二位置測量裝置(34)為圓光柵尺或與第二電機(32)相連的編碼器。
4.如權利要求1所述的數控展成磨齒機,其特征在于,所述數控裝置(30)進一步包括與所述控制輸出單元(303)相連的分度控制單元(304),用于在完成每一個齒間的左、右兩面的磨削之后,向控制輸出單元(303)輸出表示工作臺(13)旋轉角度360度/Z的分度運動指示,其中,Z表示待加工齒輪的齒數;
所述控制輸出單元(303)根據所述分度控制信號控制所述第二電機(32)驅動工作臺(13)進行分度運動。
5.如權利要求1所述的數控展成磨齒機,其特征在于,所述第一電機(31)與所述工作臺滑座(12)通過蝸輪-蝸桿結構相連、或通過蝸桿-螺母副結構相連、或直接相連;
所述第二電機(32)與所述工作臺(13)通過蝸輪-蝸桿結構相連、或者直接相連。
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