[發(fā)明專利]時(shí)序回復(fù)參數(shù)產(chǎn)生電路以及信號(hào)接收電路

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 200710106584.0
• 申請(qǐng)日: 2007-06-06
• 公開（公告）號(hào): CN101320982A
• 公開（公告）日: 2008-12-10
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 黃愷
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 智原科技股份有限公司
• 主分類號(hào): H04B1/16
• 分類號(hào): H04B1/16
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務(wù)所
• 代理人: 葛寶成

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種時(shí)序回復(fù)參數(shù)產(chǎn)生電路以及使用此時(shí)序回復(fù)參數(shù)產(chǎn)生電 路的信號(hào)接收電路，特別是涉及一種使用Mueller?&?Muller算法的時(shí)序回 復(fù)參數(shù)產(chǎn)生電路以及使用此時(shí)序回復(fù)參數(shù)產(chǎn)生電路的信號(hào)接收電路。

背景技術(shù)

一般而言，信號(hào)處理電路當(dāng)中會(huì)有一個(gè)時(shí)序回復(fù)電路修正取樣器的取樣 相位以得到正確的信號(hào)。圖1示出了現(xiàn)有技術(shù)的信號(hào)接收電路100。信號(hào)接 收電路100包含一取樣器101、一模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器103(ADC)、一數(shù)字信號(hào) 處理器105以及一時(shí)序回復(fù)(timing?recovery)電路107。數(shù)字信號(hào)處理器 105包含一均衡器109以及一量化器111，而時(shí)序回復(fù)電路107包含一時(shí)序回 復(fù)參數(shù)產(chǎn)生電路113、一回路濾波器115以及一電壓控制振蕩器117。取樣器 101用以取樣模擬信號(hào)AS以產(chǎn)生取樣信號(hào)SS、模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器103用以將 取樣信號(hào)SS轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)DS。數(shù)字信號(hào)DS經(jīng)均衡器109處理后形成等化 數(shù)字信號(hào)EDS，數(shù)字信號(hào)DS經(jīng)均衡器109和量化器111處理后形成處理后數(shù) 字信號(hào)PDS。時(shí)序回復(fù)參數(shù)產(chǎn)生電路113便根據(jù)等化數(shù)字信號(hào)EDS以及處理 后數(shù)字信號(hào)PDS產(chǎn)生時(shí)序回復(fù)參數(shù)TP，而后回路濾波器115和電壓控制震蕩 器(VCO)117便根據(jù)時(shí)序回復(fù)參數(shù)TP調(diào)整取樣時(shí)鐘信號(hào)SCLK。

在此系統(tǒng)中，接收端看到的信號(hào)可以表示，其中，n (t)為白色高斯噪聲，T為周期。若假設(shè)第m個(gè)symbol經(jīng)過(guò)取樣后假設(shè)取 樣時(shí)間點(diǎn)為τ+mT，則取樣過(guò)的信號(hào)可以 其中表示 噪聲，時(shí)序回復(fù)(timing?recovery)電路107便用以使取樣器101取樣在適 當(dāng)?shù)南辔欢沟肧NR比最高。

圖2示出了現(xiàn)有技術(shù)的利用脈沖響應(yīng)而找出取樣點(diǎn)的示意圖。脈沖響應(yīng) 以h(t)表示，接收端的脈沖響應(yīng)是發(fā)射端的濾波器、接收端的濾波器和通道 (channel)的總和。如圖2所示，符元(symbol)h₀為現(xiàn)今信號(hào)的脈沖響應(yīng) (impulse?response)，h₁與h_-1則分別上一個(gè)周期與下一個(gè)周期的信號(hào)的脈 沖響應(yīng)。一般而言，h₀、h₁和h_-1之間會(huì)存在著符碼間干擾(ISI)效應(yīng)，圖2 所示的脈沖響應(yīng)即有著嚴(yán)重的ISI效應(yīng)。然而，ISI效應(yīng)對(duì)于時(shí)序回復(fù)電路 107而言卻是重要的參考信息。一般而言，會(huì)以時(shí)序函數(shù)(timing?function) 計(jì)算出最佳取樣點(diǎn)，如圖3所示。在圖3 中，交零點(diǎn)(zero-crossing?point)x即為現(xiàn)今符元h₀的中間點(diǎn)，理論上為 最佳取樣點(diǎn)。時(shí)序函數(shù)可由mueller?&?muller算法計(jì)算而得。圖4示出了現(xiàn) 有技術(shù)的mueller?&?muller算法的電路圖。如圖4所示，時(shí)序回復(fù)參數(shù)產(chǎn)生 電路113即為使用mueller?&?muller算法的電路，然后產(chǎn)生的時(shí)間調(diào)整參數(shù) TP便供給后續(xù)的處理元件使用。關(guān)于mueller?&?muller算法的詳細(xì)描述已 揭露在學(xué)術(shù)期刊：K.H.Mueller?and?M.Muller，“Timing?Recovery?in? Digital?Synchronous?Data?Receivers，”IEEE?Trans.Communications，vol. Com-24，pp.516-531，May?1976。

如上所述，利用mueller?&?muller算法可藉由ISI效應(yīng)而求得正確的取 樣點(diǎn)。然而，圖1中所述的均衡器109卻有消除ISI效應(yīng)的效果，如此反而 會(huì)造成取樣點(diǎn)的判斷錯(cuò)誤。如圖5所示，經(jīng)過(guò)均衡器109的處理后，符元h₀、 h₁和h_-1之間不會(huì)有ISI現(xiàn)象。然而，這樣的符元在經(jīng)過(guò)時(shí)序函數(shù)的處理后， 會(huì)如圖6所示，在本來(lái)應(yīng)該出現(xiàn)交零點(diǎn)的地方出現(xiàn)一個(gè)區(qū)域Y。如此新的取 樣點(diǎn)可能落在區(qū)域Y中的任一點(diǎn)，零和點(diǎn)會(huì)漂移，因此可能會(huì)造成取樣點(diǎn)的 選擇錯(cuò)誤，并造成時(shí)序回復(fù)電路107的損壞。而且，在此結(jié)構(gòu)中，封閉式的 回路包含了均衡器，均衡器可能會(huì)有發(fā)散(diverge)的情況。