[發(fā)明專利]用于利用穿過對象的投影來探測對象的探測裝置和方法

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200710106401.5
• 申請日: 2007-05-24
• 公開（公告）號: CN101082672A
• 公開（公告）日: 2007-12-05
• 發(fā)明（設計）人: 托馬斯·弗洛爾;卡爾·施蒂爾斯托弗
• 申請（專利權）人: 西門子公司
• 主分類號: G01T1/00
• 分類號: G01T1/00;G01T1/161
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所
• 代理人: 謝強

1.一種用于利用穿過對象(40)在探測面(10)上的投影來探測該對象的探測裝置(1，3)，

該探測裝置具有構造用于發(fā)送量子(34)的發(fā)送器(5)，還具有至少一個用于接收所發(fā)出的量子(34)的、設置于探測面(10)內的檢測器(7)，該檢測器被構造和設置成，根據穿過該對象(40)所接收到的量子(34)產生至少一個在投影中至少部分地表征該對象(40)的檢測器信號，

其中，該探測裝置(1，3)被構造成，根據所產生的檢測器信號為所探測到的量子產生量子信號，該量子信號表征所探測到的量子的量子能，

其特征在于，該探測裝置被構造成產生一個與由該量子信號表征的量子能的量子能之和相對應的和信號。

2.根據權利要求1所述的探測裝置，其特征在于，

該探測裝置具有至少一個與該檢測器(7)至少是間接地相連的加權鑒別器(12)，該加權鑒別器被構造為依照預定的對應規(guī)則來產生量子信號。

3.根據權利要求1或2所述的探測裝置，其特征在于，

所述加權鑒別器(12)被構造為，根據預定對應規(guī)則通過與離散的量子能值(22，24)相對應來產生量子信號。

4.根據上述權利要求中任一項所述的探測裝置，其特征在于，

該探測裝置(1)具有一個與該加權鑒別器(12)至少間接地相連的用于量子能數據組(24)的臨時存儲器(18)，其中，該量子能數據組(24)分別表征在時間上連續(xù)接收到的量子的量子能，并且，該加權鑒別器(120被構造為，根據預定分布函數評估所接收到的單個量子的保存在該臨時存儲器(18)中的量子能，并產生根據該預定分布函數表征評估結果的量子信號。

5.根據權利要求1或2所述的探測裝置，其特征在于，

該檢測器(7)具有多個檢測器矩陣元件(9)，它們分別被構造成，根據所接收到的量子(34)產生檢測器信號。

6.根據上述權利要求中任一項所述的探測裝置，其特征在于，

所述檢測器矩陣元件(9)具有量子計數的半導體檢測器。

7.一種帶有根據上述權利要求中任一項所述的探測裝置(1，3)的計算機斷層造影儀，其特征在于，

該計算機斷層造影儀被構造為，產生表征對于每個檢測器矩陣元件的和信號或量子信號的二維數據組，并且被構造為，從分別表征該對象在探測面上的投影的二維數據組中、尤其是通過反向投影而產生按照三個維度表征對象的三維數據組。

8.一種用于利用穿過對象在探測面(10)上的投影對該對象(40)進行探測的方法，其中，

-穿過該對象發(fā)送至少一個量子；

-接收該量子并產生表征該對象的接收信號；

-產生表征該接收信號的量子能的量子信號；

其特征在于，

-產生表征該量子信號的量子能之和的和信號。