[發明專利]在一次性寫入盤上分配區域的方法和降低訪問時間的方法有效
| 申請號： | 200710103801.0 | 申請日： | 2004-03-01 |
| 公開（公告）號： | CN101051510A | 公開（公告）日： | 2007-10-10 |
| 發明（設計）人： | 黃盛凞;高禎完;李坰根 | 申請（專利權）人： | 三星電子株式會社 |
| 主分類號： | G11B20/12 | 分類號： | G11B20/12 |
| 代理公司： | 北京銘碩知識產權代理有限公司 | 代理人： | 郭鴻禧;馮敏 |
| 地址： | 韓國京畿道*** | 國省代碼： | 韓國;KR |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一次性 寫入 分配 區域 方法 降低 訪問 時間 | ||
1.一種在具有至少一個記錄層的一次性寫入盤上分配區域的方法，該方 法包括：
分配暫時缺陷管理區域，在所述暫時缺陷管理區域中記錄了暫時管理信 息，所述暫時管理信息包括關于缺陷塊的信息，所述暫時管理信息根據所述 盤的使用而被更新；和
分配訪問信息區域，在該訪問信息區域中記錄了關于暫時管理信息的記 錄位置的信息和關于記錄條件測試區域的一部分的位置信息。
2.如權利要求1所述的方法，其中，每當預定數量的記錄操作結束時， 在訪問信息區域中記錄所述關于暫時管理信息的記錄位置的信息和關于記錄 條件測試區域的一部分的位置信息。
3.如權利要求1所述的方法，其中，每當所述至少一個暫時缺陷管理區 域的預定數量的塊被填充信息時，在訪問信息區域中記錄所述關于暫時管理 信息的記錄位置的信息。
4.如權利要求1所述的方法，其中，所述關于暫時管理信息的記錄位置 的信息和關于記錄條件測試區域的一部分的位置信息被幾次記錄在訪問信息 區域。
5.如權利要求1所述的方法，其中，所述記錄條件測試區域的一部分是 將在下一次執行記錄條件的測試的記錄條件測試區域的一部分；
所述位置信息包括將在下一次執行記錄條件的測試的記錄條件測試區域 的一部分的開始地址。
6.一種從信息存儲介質再現數據的方法，所述方法包括：
從信息存儲介質的訪問信息區域獲得關于暫時管理信息的記錄位置的信 息和關于記錄條件測試區域的一部分的位置信息；
使用所述關于暫時管理信息的記錄位置的信息從信息存儲介質的暫時缺 陷管理區域獲得暫時管理信息；
其中，所述暫時管理信息包括關于缺陷塊的信息，所述暫時管理信息根 據信息存儲介質的使用而被更新。
7.如權利要求6所述的方法，其中，所述記錄條件測試區域的一部分是 將在下一次執行記錄條件的測試的記錄條件測試區域的一部分；
所述位置信息包括將在下一次執行記錄條件的測試的記錄條件測試區域 的一部分的開始地址。
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