[發(fā)明專利]液晶顯示器驅動芯片的治具板

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200710102081.6
• 申請日: 2007-05-14
• 公開（公告）號: CN101308261A
• 公開（公告）日: 2008-11-19
• 發(fā)明（設計）人: 陳文祺
• 申請（專利權）人: 陳文祺
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13;G01R31/00
• 代理公司: 北京集佳知識產(chǎn)權代理有限公司
• 代理人: 逯長明

技術領域

本發(fā)明提供一種液晶顯示器驅動芯片的治具板，尤指一種可以在量測驅動芯片時，隔離模擬信號與數(shù)字信號間相互干擾的治具板。

背景技術

液晶顯示器驅動芯片(LCD?driver)現(xiàn)今發(fā)展的工作速度愈來愈快，且位階要求愈來愈準確。傳統(tǒng)的治具板是于一測試系統(tǒng)的機臺上供液晶顯示驅動芯片測試用，在治具板上可設置一液晶顯示驅動芯片。

參考圖1，一般傳統(tǒng)的治具板10以其上線路布局主要包括有：一待測組件區(qū)(DUT)101、一液晶顯示信號區(qū)(LCD?CHANNEL)103、一電壓參考位階區(qū)(RVS)105、一組件數(shù)字電源區(qū)(DPS)107、一輸入信號區(qū)(I/P?CHANNEL)109、一繼電器控制位區(qū)(CW)102及一外加電源區(qū)(USER?POWER)104。根據(jù)治具板10上的線路布局方式，可區(qū)分成下述兩種：

1、參考圖2所示，治具板10a僅提供一數(shù)字參考點DG，作為測試驅動芯片106時，數(shù)字信號與模擬信號共同的參考位階。此種將數(shù)字參考點DG短路在一起的治具板10a，其無法隔離模擬信號與數(shù)字信號間的相互干擾，而導致測試時有較大的噪聲產(chǎn)生，進而影響信號和電源的準確度。前述信號間的干擾，會使驅動芯片106的數(shù)字/模擬轉換器DAC(未標示)于信號轉換過程中，造成功能飄移、位階不對及信號不穩(wěn)，導致測試誤判甚至造成低良率。

2、參考圖3所示，治具板10b除了數(shù)字參考點DG外，額外提供一模擬信號參考點AG，作為一組件模擬電源區(qū)107b與驅動芯片106的模擬電源VDD2共同的參考位階。如此，治具板10b可以模擬信號參考點AG與數(shù)字參考點DG隔離模擬電源VDD2與數(shù)字電源VDD1。然而，雖然區(qū)分出模擬電源VDD2與數(shù)字電源VDD1，降低電源間的相互干擾，但仍然無法分離驅動芯片106中的模擬系統(tǒng)方塊和數(shù)字系統(tǒng)方塊，故數(shù)字信號和模擬信號間，仍然互相干擾。

此外，電壓參考位階區(qū)105仍然以數(shù)字信號參考點DG作為其參考位階，所以無法穩(wěn)定數(shù)字/模擬轉換器(DAC)的轉換位階，位階的飄移仍無法有效的改善，致使測試過程中仍然不穩(wěn)定。

因此，本發(fā)明人特潛心研究并配合學理的運用，以設計一可針對上述因素作考慮的裝置，令使用者在進行測試時，可降低受噪聲干擾，進而提升驅動芯片106于受測試時的準確度。

發(fā)明內(nèi)容

有鑒于此，本發(fā)明提供一種液晶顯示器驅動芯片的治具板，適用于一具有數(shù)字系統(tǒng)與模擬系統(tǒng)的液晶顯示器驅動芯片，并且在量測驅動芯片時，提供一數(shù)字信號參考點與一模擬信號參考點，用來隔離模擬信號與數(shù)字信號間相互的干擾。

本發(fā)明第一實施例的治具板包括：一待測組件區(qū)、一液晶顯示信號區(qū)、一電壓參考位階區(qū)、一組件模擬電源區(qū)、一組件數(shù)字電源區(qū)及一輸入信號區(qū)。該待測組件區(qū)連接液晶顯示器驅動芯片，并且設有一數(shù)字信號參考點及一模擬信號參考點；該液晶顯示信號區(qū)連接至該待測組件區(qū)的模擬信號參考點；該電壓參考位階區(qū)連接至該待測組件區(qū)的模擬信號參考點；該組件模擬電源區(qū)連接至該待測組件區(qū)的模擬信號參考點；該組件數(shù)字電源區(qū)連接至該待測組件區(qū)的數(shù)字信號參考點；該輸入信號區(qū)連接至該待測組件區(qū)的數(shù)字信號參考點。

本發(fā)明第二實施例的治具板包括：一待測組件區(qū)、一液晶顯示信號區(qū)、一電壓參考位階區(qū)、一組件模擬電源區(qū)、一組件數(shù)字電源區(qū)及一輸入信號區(qū)。該待測組件區(qū)設有一數(shù)字信號參考點、一模擬信號參考點及一輔助模擬信號參考點；該液晶顯示信號區(qū)連接至該待測組件區(qū)的模擬信號參考點；該電壓參考位階區(qū)連接至該待測組件區(qū)的輔助模擬信號參考點；該組件模擬電源區(qū)連接至該待測組件區(qū)的模擬信號參考點；該組件數(shù)字電源區(qū)連接至該待測組件區(qū)的數(shù)字信號參考點；該輸入信號區(qū)連接至該待測組件區(qū)的數(shù)字信號參考點。

本發(fā)明提供的治具板，可以于量測驅動芯片時，提供數(shù)字信號參考點與模擬信號參考點，來隔離模擬信號與數(shù)字信號間相互的干擾，以期降低噪聲干擾，穩(wěn)定信號位階的準確度，進而加強驅動芯片測試中的穩(wěn)定度，以期增進測試良率。

以上的概述與接下來的詳細說明皆為示范性質(zhì)，是為了進一步說明本發(fā)明的申請專利范圍。而有關本發(fā)明的其它目的與優(yōu)點，將在后續(xù)的說明與圖標加以闡述。

附圖說明

圖1為傳統(tǒng)的治具板線路布局示意圖；

圖2為具數(shù)字參考點的治具板線路布局示意圖；

圖3為具數(shù)字參考點與模擬信號參考點的治具板線路布局示意圖；

圖4為本發(fā)明第一實施例的治具板線路布局示意圖；

圖5為本發(fā)明第二實施例的治具板線路布局示意圖；及

圖6為本發(fā)明第三實施例的治具板線路布局示意圖。