[發(fā)明專利]光學掃描設(shè)備

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200710101176.6
• 申請日: 2007-05-09
• 公開（公告）號: CN101086648A
• 公開（公告）日: 2007-12-12
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 古賀勝秀
• 申請（專利權(quán)）人: 佳能株式會社
• 主分類號: G03G15/04
• 分類號: G03G15/04;H04N1/04
• 代理公司: 中國國際貿(mào)易促進委員會專利商標事務(wù)所
• 代理人: 王萍

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及用于使用靜電或電子照相記錄方法檢測成像設(shè)備的光學特性的技術(shù)。

背景技術(shù)

一般而言，電子照相成像設(shè)備包括光學掃描設(shè)備，該設(shè)備根據(jù)輸入的圖像數(shù)據(jù)驅(qū)動半導(dǎo)體激光器以在光敏部件上形成相應(yīng)于圖像數(shù)據(jù)的靜電潛像。

被用作光學掃描設(shè)備的光源的半導(dǎo)體激光器發(fā)出具有波長-溫度特性的激光束。換句話說，當溫度改變時，激光束的波長也改變。相應(yīng)地，光學掃描設(shè)備中的用于透射激光束的透鏡和用于反射激光束的反射鏡的折射率和反射率也改變。結(jié)果，由激光束在光敏部件上形成的掃描線的放大率也改變。

當使用多光束光源時，由于激光束之間的波長差異，由溫度特性所引起的上文所描述的放大率的變化被添加到放大率的初始差異中。結(jié)果，所有激光束的放大率都會分別地改變。因此，提出了通過在光敏部件上形成測試圖案并測量中間轉(zhuǎn)印部件上的測試圖案之間的間隙，從而來檢測每一個激光束的放大率的方法(例如，請參閱日本專利公開No.8-156332)。

然而，光源的數(shù)量可以增大到幾十個或幾百個，以取得具有較高速度和分辨率的成像設(shè)備。在這樣的情況下，需要花費相當長的時間才能形成測試圖案并對它們進行檢測。因此，上文所提及的方法被認為是不切實際的。

需要在光學掃描設(shè)備中而不是在中間轉(zhuǎn)印部件上檢測每一個光束的放大率。因此，已經(jīng)提出了通過在掃描線的上游和下游位置放置傳感器并測量在兩個位置之間進行掃描所需的時間，從而來檢測放大率的方法(例如，請參閱日本專利公開No.2002-122799)。

然而，例如在光學掃描設(shè)備中糾正當光學掃描設(shè)備連接到成像設(shè)備時生成的誤差所導(dǎo)致的掃描線的傾斜的情況下，不能簡單地通過測量在兩個位置之間進行掃描所需的時間來檢測準確的放大率。下面將參考圖5、6A-6B以及7A-7B說明這一點的理由。

圖5是光學掃描設(shè)備的主要部件的示意頂視圖。圖5顯示了掃描位置檢測傳感器91和92、從多光束光源發(fā)出的激光束A和B、多面反射鏡33以及f-θ透鏡34。圖6A顯示了如圖5所示的掃描位置檢測傳感器91和92與多光束光源的激光束A和B之間的關(guān)系(在圖7A中傾斜θ為零(0))。

圖6B顯示了由掃描位置檢測傳感器91和92檢測到的信號。圖7A顯示了掃描位置檢測傳感器91和92與傾斜為角度θ的激光束A和B之間的關(guān)系。圖7B顯示了當掃描線具有角度θ的傾斜時由掃描位置檢測傳感器91和92檢測到的信號。

當激光束A和B具有不同波長時，對于激光束A和B，反射鏡33和f-θ透鏡34分別具有不同的反射率和折射率。因此，如圖5所示，激光束A和B具有不同的掃描線寬度(掃描放大率)。在如圖5所示的情況下，激光束B的掃描速度高于激光束A的掃描速度。因此，在圖6B中，激光束A和B分別在掃描位置檢測傳感器91和92之間移動所需的時間Ta和Tb滿足Ta＞Tb。

當掃描位置檢測傳感器91和92之間的距離是L，而激光束A和B的掃描速度分別是Va和Vb時，滿足下列公式：

Va＝L/Ta，Vb＝L/Tb

當激光束A的掃描線A′的掃描放大率被定義為1時，按如下方式計算激光束B的掃描線B′的掃描放大率：

Vb/Va＝Ta/Tb

然而，如果通過調(diào)整光學掃描設(shè)備中的透鏡位置等等來糾正當光學掃描設(shè)備連接到成像設(shè)備時生成的誤差所導(dǎo)致的掃描線的傾斜，則相對于掃描位置檢測傳感器91和92，掃描線具有角度為θ的傾斜，如圖7A所示。

在圖7A中，掃描線的長度被確定為L，雖然在實踐中它是L′＝L/cosθ。按如下方式計算激光束A的實際掃描速度：

Va′＝L′/Ta＝L/(Ta?cosθ)

然而，按如下方式確定激光束A的掃描速度：

Va′＝L/Ta

這意味著，確定的掃描速度具有(1/cosθ-1)的誤差。當激光束A的掃描速度被用作參考時，使用下列公式確定掃描線B′的掃描放大率：

Vb′/Va′＝Ta/Tb

因此，雖然可以計算相對放大率，但是，因為被用作參考的掃描線A′的放大率包括誤差，因此，所有激光束的放大率都包括誤差。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明旨在提供一種光學掃描設(shè)備，該設(shè)備可以同時檢測掃描線的傾斜和多光束光學系統(tǒng)(該系統(tǒng)能夠發(fā)出幾十個或幾百個波束，以提高速度和分辨率)的激光放大率，并且甚至在成像操作過程中也可以執(zhí)行檢測。