[發明專利]一種用高導磁材料的電磁波測井儀校驗方法

有效

• 申請號: 200710099034.0
• 申請日: 2007-05-09
• 公開（公告）號: CN101050700A
• 公開（公告）日: 2007-10-10
• 發明（設計）人: 盧達;張雷;侯洪為
• 申請（專利權）人: 中國海洋石油總公司;中海油田服務股份有限公司
• 主分類號: E21B49/00
• 分類號: E21B49/00;G01V3/30
• 代理公司: 北京安信方達知識產權代理有限公司
• 代理人: 龍洪;霍育棟

技術領域

本發明涉及一種用于校驗電磁波測井儀的校驗方法。

背景技術

電磁波測井儀器主要用于測量地層的電阻率(有些儀器還測量地層的介電常數，也稱電容率)。每支電磁波測井儀器在使用前后都需要進行刻度或校驗。很自然地，人們在地面用串有電阻(或電阻和電容)的導電環做成刻度器來模擬地層，校驗儀器。這是目前廣泛使用的感應測井儀和電磁波測井儀校驗方法。然而，電磁波在介質中傳播，不僅介質的電導率和介電常數會對電磁波的幅度和相位產生影響，介質的磁導率同樣會影響電磁波的幅度和相位。由于含金屬礦很少的沉積地層的磁導率接近于真空的磁導率，人們往往忽略了磁導率這個電參數。本發明有意引入磁導率，利用高導磁材料來制作電磁波測井的校驗裝置。

發明內容

本發明所要解決的技術問題在于提供一種用高導磁材料的電磁波測井儀校驗方法，不僅校驗精度高，而且操作更簡單。

本發明的一種用高導磁材料的電磁波測井儀校驗方法包括如下步驟：

1)采用磁導率為10⁴亨利/米以上的導磁材料，利用它的磁導率對電磁波產生的衰減和相位移來模擬地層的電導率對電磁波產生的衰減和相位移，將所述導磁材料固定在玻璃鋼或其他絕緣材料制成的圓筒上，再將圓筒套設在標準電磁波測井儀上；

2)將該導磁材料置于沿標準電磁波測井儀軸向的適當位置，然后沿標準電磁波測井儀的軸向移動，測量該標準電磁波測井儀的相位差值，利用高導磁材料使電磁波傳播產生一定的相位移和衰減來校驗待測電磁波測井儀器。

進一步地，所述導磁材料為鐵基、鐵鎳基或鈷基的導磁材料。

進一步地，所述圓筒長度大于30cm。

本發明利用高導磁材料的磁導率使電磁波傳播產生一定的相位移和衰減來校驗待測電磁波測井儀器，不僅測量操作簡單，只需將高導磁材料做成的圓筒套于標準電磁波測井儀器和待測電磁波測井儀器的適當位置就可以進行校驗。

附圖說明

圖1為本發明將導磁材料套在標準電磁波測井儀上的示意圖。

圖2為本發明將導磁材料套在標準電磁波測井儀并沿軸向運動測到的相位差曲線圖。

具體實施方式

本發明具體包括如下步驟：

1)采用磁導率為10⁴亨利/米以上的導磁材料，利用它的磁導率對電磁波產生的衰減和相位移來模擬地層的電導率對電磁波產生的衰減和相位移；

2)如圖1所示，將該導磁材料1置于沿標準電磁波測井儀2軸向的適當位置上，然后沿標準電磁波測井儀2的軸向移動，測量該標準電磁波測井儀2的相位差值，測量結果如圖2所示。最后將導磁材料1套在與待測電磁波測井儀與標準電磁波測井儀2相應的位置(未圖示出)，結合圖2的結果就可以利用高導磁材料1使電磁波傳播產生一定的相位移和衰減來校驗待測電磁波測井儀器了。

上述導磁材料1還可以為鐵鎳基或鈷基的非晶帶導磁材料。

本發明選擇磁導率在10⁴亨利/米以上的高導磁非晶態帶材，工作頻率可覆蓋目前電磁波測井的頻率范圍，將非晶態高導磁材料固定在玻璃鋼或其他絕緣材料制成的圓筒上，這樣可以利于使用，并且攜帶方便，圓筒長度應大于30cm，以便對電磁波產生足夠的相位移。用這樣的高導磁玻璃鋼圓筒去做其他電磁波測井儀器的現場校驗。其特點是使用方便，便于運輸，讀值準確。