[發明專利]用于有選擇地將測試數據記入日志的系統和方法

無效

• 申請號: 200710098108.9
• 申請日: 2007-04-13
• 公開（公告）號: CN101067561A
• 公開（公告）日: 2007-11-07
• 發明（設計）人: 卡利·康納利;克里斯汀·N·卡斯特頓
• 申請（專利權）人: 韋瑞吉（新加坡）私人有限公司
• 主分類號: G01D9/00
• 分類號: G01D9/00;G01R31/01;G01R31/26;G01R31/28;G06F17/00
• 代理公司: 北京東方億思知識產權代理有限責任公司
• 代理人: 王怡

技術領域

本發明涉及用于有選擇地將測試數據記入日志的系統和方法。

背景技術

對于對片上系統(SOC)器件進行測試，可以將大量的信息記入日志。單次測試可以獲得許多參數式測量數據。所有這些測量數據都可能要與相應的測試限制一起被記入日志。這可能要花費大量的時間、系統存儲器和文件空間。

在生產和測試過程穩定時，用戶可能僅需要獲得概況信息。一般而言，當在生產或者利用測試儀進行測試時發生問題時，可能需要更詳細的信息來確定該問題。

一般來說，用戶僅將對測試儀獲得的詳細信息的采樣記入日志。例如，用戶可能將每第五個被測器件的詳細信息記入日志，該詳細信息可能包括測量值和限制。對于其他被測器件，可以將諸如通過/失敗信息之類的初步信息記入日志。在Agilent?93000測試儀中，用戶可以選擇捕獲詳細測試數據的頻度。

一個缺點是對于特定器件，一般要么所有細節結果都必須被記入日志，或者所有細節結果都不被記入日志。不必要的細節數據通常必需被記入日志，以獲得需要的數據。

當前，用戶不能預測是否將發生問題并且改變數據捕獲速率。用戶必須在存在問題時手動通知改變用于數據捕獲的設置。許多器件可能必須被重新測試以獲得所需要的細節數據。用戶不可能輕易地檢測出何時測試結果正飄動并且需要更詳細的數據。

發明內容

在一個實施例中，提供了一種用于有選擇地將測試數據記入日志的系統，該系統包括：用來監視由多個器件產生的測試數據和用來產生與該測試數據相關的統計量的代碼；以及用來響應于與所述測試數據相關的統計量，有選擇地調整產生該測試數據的測試儀以修改針對所述多個器件由測試儀記入日志的測試數據的代碼。

在另一個實施例中，提供了用于有選擇地將測試數據記入日志的方法，該方法包括：監控由多個器件產生的測試數據并且產生與該測試數據相關的統計量；并且響應于與所述測試數據相關的統計量，有選擇地調整產生該測試數據的測試儀以修改從所述器件獲得的測試數據。

還公開了其他實施例。

附圖說明

附圖中示出了本發明的說明性實施例，在附圖中：

圖1示出了用于有選擇地將測試數據記入日志的系統；

圖2示出了由用于對圖1所示系統的測試儀進行有選擇地調整的代碼所產生的反饋信號；

圖3示出了可選地結合到圖1所示系統中的測試儀，該測試儀包含用于監控測試數據的代碼和用于有選擇地調整測試儀的代碼；

圖4示出了可選地結合到圖1所示系統中的控制器，該控制器具有用于監控由測試儀獲得的測試數據的代碼和用于有選擇地調整該測試儀的代碼；以及

圖5示出了用于有選擇地將測試數據記入日志的方法。

具體實施方式

參見圖1，并且在一個實施例中，該圖示出了一種用于有選擇地將測試數據102記入日志的系統100。系統100可以包括測試儀104，用于對器件108執行測試106，并且用于將從器件108獲得的測試數據102記入日志。系統100可以包括用于對由測試儀104獲得的測試數據102進行監控來產生與測試數據102相關的統計量112。系統100可以包括用于響應于與測試數據102相關的統計量112，有選擇地調整測試儀104以修改從器件108記入到日志中的測試數據102。

參考圖2，并且在一個實施例中，系統100可以包括由用于有選擇地調整測試儀104的代碼114產生的對應于與測試數據102相關的統計量112的反饋信號200。反饋信號200可以被用來調整由測試儀104從器件108記入到日志中的測試數據102。

現在參考圖3，并且在一個實施例中，測試儀104可以包含用于監控測試數據102的代碼110。測試儀104還可以包含用于有選擇地調整測試儀104的代碼114。

參考圖4，并且在一個實施例中，系統100還可以包括控制器400，控制器400具有用于對由測試儀104獲得的測試數據102進行監控的代碼110。控制器400可以包括用于有選擇地調整測試儀104的代碼114。控制器400可以是與測試儀104相分離的。

在一個實施例中，測試儀104可以包括自動測試裝備(ATE)，測試儀104在下文中也被稱作自動測試裝備104。自動測試裝備104以包含用于監控測試數據102的代碼104。自動測試裝備104可以包含用于有選擇地調整測試儀104的代碼114。