[發(fā)明專利]編程存儲(chǔ)單元塊的方法、非易失性存儲(chǔ)器件和存儲(chǔ)卡器件

無效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 200710097200.3
• 申請(qǐng)日: 2007-04-12
• 公開（公告）號(hào): CN101055764A
• 公開（公告）日: 2007-10-17
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: U·奧古斯丁;K·塞德爾
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 奇夢(mèng)達(dá)閃存有限責(zé)任公司
• 主分類號(hào): G11C16/10
• 分類號(hào): G11C16/10;G11C16/34;G11C16/26
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司
• 代理人: 曾祥夌;王小衡

1.一種用于編程非易失性存儲(chǔ)器件的存儲(chǔ)單元塊的方法，所述方法包括：

選擇所述存儲(chǔ)單元塊的第一組存儲(chǔ)單元；

將至少一個(gè)編程脈沖編程到第一組的所有存儲(chǔ)單元中；

僅檢測(cè)第一組的每一個(gè)所述存儲(chǔ)單元的閾值電平；以及

通過將每一個(gè)檢測(cè)的閾值電平與提供給每一個(gè)第一組存儲(chǔ)單元的預(yù)定義目標(biāo)電平相比較，來驗(yàn)證第一組存儲(chǔ)單元。

2.如權(quán)利要求1所述的方法，其中選擇第一組存儲(chǔ)單元包括選擇要編程到第一邏輯值的所有存儲(chǔ)單元作為第一組存儲(chǔ)單元。

3.如權(quán)利要求1所述的方法，其中選擇第一組存儲(chǔ)單元包括：

檢測(cè)所述存儲(chǔ)單元塊的每一個(gè)所述存儲(chǔ)單元的第一閾值電平；

通過將每一個(gè)第一檢測(cè)的閾值電平與提供給所述存儲(chǔ)單元塊的每一個(gè)所述存儲(chǔ)單元的預(yù)定義目標(biāo)電平相比較，來驗(yàn)證所述存儲(chǔ)單元塊；以及

選擇未成功驗(yàn)證的所有存儲(chǔ)單元作為第一組存儲(chǔ)單元。

4.如權(quán)利要求1所述的方法，其中重復(fù)執(zhí)行所述編程、檢測(cè)和驗(yàn)證步驟，直到第一組存儲(chǔ)單元的所有存儲(chǔ)單元都已成功驗(yàn)證為止。

5.如權(quán)利要求4所述的方法，其中在驗(yàn)證第一組存儲(chǔ)單元的所述步驟中，已成功驗(yàn)證的存儲(chǔ)單元從第一組中移除，以便當(dāng)?shù)谝唤M為空時(shí)，第一組存儲(chǔ)單元的所有存儲(chǔ)單元都已成功驗(yàn)證。

6.如權(quán)利要求1所述的方法，其中第一組存儲(chǔ)單元的至少一些存儲(chǔ)單元被順序驗(yàn)證。

7.如權(quán)利要求1所述的方法，其中第一組存儲(chǔ)單元的至少一些存儲(chǔ)單元被并行驗(yàn)證。

8.一種用于編程非易失性存儲(chǔ)器件的存儲(chǔ)單元塊的方法，所述方法包括：

選擇要編程到編程狀態(tài)的存儲(chǔ)單元塊的存儲(chǔ)單元作為第一組；以及

當(dāng)?shù)谝唤M包含至少一個(gè)存儲(chǔ)單元時(shí)，執(zhí)行如下步驟：

將至少一個(gè)編程脈沖編程到第一組的所有存儲(chǔ)單元中；

僅檢測(cè)第一組的每一個(gè)所述存儲(chǔ)單元的閾值電平；

將每一個(gè)檢測(cè)的閾值電平和與所述編程狀態(tài)相關(guān)聯(lián)的預(yù)定義目標(biāo)電平相比較；以及

重新分配第一組，以使它僅包含閾值電平低于與所述編程狀態(tài)相關(guān)聯(lián)的所述預(yù)定義目標(biāo)電平的存儲(chǔ)單元。

9.如權(quán)利要求8所述的方法，其中使用如下步驟將所述存儲(chǔ)單元塊準(zhǔn)備用于編程：

將所述存儲(chǔ)單元塊的所有存儲(chǔ)單元編程到所述編程狀態(tài)；以及

將所述存儲(chǔ)單元塊的所有存儲(chǔ)單元編程到擦除狀態(tài)。

10.一種用于編程非易失性存儲(chǔ)器件的存儲(chǔ)單元塊的方法，所述方法包括：

選擇所述存儲(chǔ)單元塊的第一組存儲(chǔ)單元；以及

當(dāng)?shù)谝唤M包含至少一個(gè)存儲(chǔ)單元時(shí)，執(zhí)行如下步驟：

將至少一個(gè)編程脈沖編程到第一組的所有存儲(chǔ)單元中；

僅檢測(cè)第一組的每一個(gè)所述存儲(chǔ)單元的閾值電平；以及

如果所述存儲(chǔ)單元的所檢測(cè)電平位于預(yù)定義目標(biāo)范圍內(nèi)，則從第一組中移除所述存儲(chǔ)單元。

11.一種用于編程非易失性存儲(chǔ)器件的存儲(chǔ)單元塊的方法，所述方法包括：

選擇要編程的所述存儲(chǔ)單元塊的第一組存儲(chǔ)單元；

將至少一個(gè)編程脈沖并行編程到第一組的所有存儲(chǔ)單元中；及

用預(yù)定義閾值電平順序驗(yàn)證所述存儲(chǔ)單元塊的存儲(chǔ)單元的所檢測(cè)閾值電平，這樣做跳過不包含在第一組中的存儲(chǔ)單元的驗(yàn)證。

12.如權(quán)利要求11所述的方法，其中成功驗(yàn)證的存儲(chǔ)單元從第一組中移除。

13.一種用于編程非易失性存儲(chǔ)器件的多電平存儲(chǔ)單元塊的方法，所述方法包括：

為所述存儲(chǔ)單元塊的每個(gè)存儲(chǔ)單元提供目標(biāo)閾值范圍；

將所述存儲(chǔ)單元塊的所有存儲(chǔ)單元編程到第一最低閾值范圍；以及

重復(fù)執(zhí)行如下步驟：

選擇要編程到較高閾值范圍的所述存儲(chǔ)單元塊的所有存儲(chǔ)單元；

將至少一個(gè)編程脈沖編程到所有選擇的存儲(chǔ)單元中；

僅檢測(cè)每一個(gè)選擇的存儲(chǔ)單元的閾值電平；以及

如果所述存儲(chǔ)單元的所檢測(cè)閾值電平位于為該存儲(chǔ)單元提供的目標(biāo)閾值范圍內(nèi)，則從第一組中移除所述存儲(chǔ)單元；

直到所述存儲(chǔ)單元塊的所有存儲(chǔ)單元都已達(dá)到它們各自的目標(biāo)閾值范圍為止。