[發明專利]觸摸面板有效
| 申請號: | 200710097120.8 | 申請日: | 2007-04-17 |
| 公開(公告)號: | CN101063922A | 公開(公告)日: | 2007-10-31 |
| 發明(設計)人: | 梨木智剛;菅原英男 | 申請(專利權)人: | 日東電工株式會社 |
| 主分類號: | G06F3/045 | 分類號: | G06F3/045 |
| 代理公司: | 中科專利商標代理有限責任公司 | 代理人: | 李香蘭 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 觸摸 面板 | ||
技術領域
本發明涉及一種用薄膜基材上設置有導電性薄膜的面板作為上下基板的觸摸面板。
背景技術
作為觸摸面板,使用使設置有透明的導電性薄膜的基材經由隔離件對置配置,且將所述導電性薄膜作為透明電極而用的面板。目前,作為這種導電性薄膜,公知的有在玻璃上形成氧化銦薄膜的所謂導電玻璃,但由于基材是玻璃,可撓性、加工性差,在用途上存在有時不能使用的情況。
因此,近年來,不僅從可撓性、加工性而且從耐沖擊性優良、輕量等優點出發,用以聚對苯二甲酸乙二醇酯薄膜為首的各種合成樹脂薄膜為基材的導電性薄膜被使用。
使用這種薄膜基材的導電性薄膜在觸摸面板中,用筆反復輸入且在筆端按壓過剩的負荷時,由導電性薄膜構成的透明電極劣化且破損。另外,在已劣化的破損部位電阻值變大,存在觸摸面板的壽命縮短的問題。即,在觸摸面板上,導電性薄膜彼此依靠來自一面板側的按壓打點強有力地接觸,因此,希望具有能夠抵抗這些的良好的耐久性即打點特性、尤其是筆輸入耐久性的觸摸面板。
于是,有關在觸摸面板中,設置有作為面板用的導電性薄膜的薄膜基材已被進行改良上述問題的嘗試。本文申請人也提案如下:在透明的薄膜基材的一面上,將透明的第一電介質薄膜、透明的第二電介質薄膜及透明的導電性薄膜按照該順序疊層,在上述薄膜基材的另一面上,將經由透明的膠粘劑貼合有透明基體的透明導電疊層體用于觸摸面板(參照特許文獻1,2)。使用了上述透明導電疊層體的觸摸面板,雖然可以提高耐久性,可是由于觸摸面板市場的擴大,對觸摸面板來說,更高的耐久性被要求。
特許文獻1:特開2002-316378號公報(第2~4頁)
特許文獻2:特開2002-326301號公報(第2~5頁)
發明內容
本發明是對照上述的情況開發的,使用在薄膜基材上設置有導電性薄膜的面板的觸摸面板,目的在于提供一種導電性薄膜的耐久性優良的觸摸面板。
本發明者們重復進行用于解決上述課題的銳意研討,直到完成本發明,結果發現,利用下述觸摸面板能夠達到上述目的。
即,本發明涉及一種觸摸面板,其具有第一面板和第二面板,所述第一面板具有透明的第一薄膜基材和設在該第一薄膜基材的單面的透明的第一導電性薄膜;所述第二面板具有透明的第二薄膜基材和設在該第二薄膜基材的單面的透明的第二導電性薄膜,第一面板和第二面板按照第一導電性薄膜和第二導電性薄膜對置的方式經由隔離件而對置配置,其特征在于第一導電性薄膜的表面硬度為1GPa以上,彈性模量為5GPa以上,
第二導電性薄膜的表面的中心線平均粗糙度(Ra)為0.3~1.0nm,
并且,第二導電性薄膜的表面的中心線平均粗糙度(Ra)的值比第一導電性薄膜的表面的中心線平均粗糙度(Ra)的值小。
由上述本發明發現,在觸摸面板中,對于用于上板(按壓側)的第一面板的第一導電性薄膜、和用于下板的第二面板的第二導電性薄膜,通過將它們的硬度、彈性模量及中心線平均粗糙度(Ra)控制并組合為規定的關系,能夠提高耐久性。即發現,通過對上板提高硬度和彈性模量,另一方面,對下板控制小的中心線平均粗糙度,能夠抑制對置配置的第一導電性薄膜和第二導電性薄膜的劣化和損傷,從而能夠延長觸摸面板的壽命。
第一導電性薄膜的表面硬度優選1GPa以上,更優選1.5GPa以上,進一步優選2GPa以上,另外,彈性模量優選5GPa以上,更優選8GPa以上,進一步優選10GPa以上。通過具備這樣的物性,即使第一面板彎曲,也不會招致裂紋進入第一導電性薄膜、電阻值劣化等障礙,耐久性良好,能夠合適地用作觸摸面板的上板。在第一導電性薄膜的表面硬度不足1GPa或彈性模量不足5GPa的情況下,觸摸面板的耐久性不充分。另外,從耐久性方面考慮,所述導電性薄膜的表面硬度的上限優選5GPa以下,更優選4GPa以下,同樣從耐久性方面考慮,所述彈性模量優選20GPa以下,更優選16GPa以下。
上述第一導電性薄膜的硬度及彈性模量通過壓痕試驗(壓頭壓入試驗),例如用掃描型探針顯微鏡(JEOL.LTD/日本電子:JSPM-4200)等能夠測定。在測定薄膜硬度的情況下,通常壓頭的壓入深度必須納入膜厚深度的十分之一程度。對于第二導電性薄膜的表面硬度及彈性模量也是同樣的程度條件。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于日東電工株式會社,未經日東電工株式會社許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/200710097120.8/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





