[發(fā)明專利]記錄方法、光盤、再現(xiàn)方法及記錄再現(xiàn)裝置無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200710096380.3 | 申請日: | 2007-04-16 |
| 公開(公告)號: | CN101290786A | 公開(公告)日: | 2008-10-22 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 岸上智;竹下伸夫 | 申請(專利權(quán))人: | 三菱電機株式會社 |
| 主分類號: | G11B20/12 | 分類號: | G11B20/12;G11B7/004 |
| 代理公司: | 北京三友知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人: | 黃綸偉 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 記錄 方法 光盤 再現(xiàn) 裝置 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及具有多個記錄層的光盤。本發(fā)明特別涉及在各層上具有記錄測試區(qū)域的光盤,所述記錄測試區(qū)域用于設(shè)定在各記錄層上記錄數(shù)據(jù)時的最佳記錄功率。并且,本發(fā)明涉及在該光盤上記錄數(shù)據(jù)的記錄裝置(記錄方法)。此外,本發(fā)明涉及再現(xiàn)該光盤上記錄的數(shù)據(jù)的再現(xiàn)裝置(再現(xiàn)方法)。
背景技術(shù)
在可記錄數(shù)據(jù)的光盤上設(shè)置有用于設(shè)定最佳記錄條件的記錄測試區(qū)域。在具有多個記錄層的光盤中,在對從記錄光入射側(cè)觀看為里側(cè)的層進行記錄的情況下,與該里側(cè)的層對應(yīng)的最佳記錄條件根據(jù)靠前的層是否為已記錄狀態(tài)而不同。因此,需要掌握靠前的層的記錄狀態(tài)。并且,對里側(cè)的層進行記錄的情況下,為了避免靠前的層的記錄狀態(tài)的影響,需要考慮通過靠前的層的光束直徑和里側(cè)的層與靠前的層之間的偏移量。
作為其對策,存在如下的光盤:在對里側(cè)的層進行記錄的情況下,考慮通過靠前的層的光束半徑和里側(cè)的層與靠前的層之間的偏移量,配置用于調(diào)整記錄光功率的測試區(qū)域(例如參照專利文獻1)。
專利文獻1:WO?2002/023542(第1-34頁,第1-14圖)
在具有多個記錄層的光盤中,對里側(cè)的層進行測試記錄時,需要使靠前的層的記錄狀態(tài)一樣。將各記錄層的記錄測試區(qū)域配置成不與其它記錄層的記錄測試區(qū)域重疊的情況下,能夠在光盤上設(shè)定記錄測試區(qū)域的區(qū)域受到限制,所以該測試記錄區(qū)域減小。為可改寫的光盤的情況下,在較小的區(qū)域重復(fù)實施記錄測試時,由于重復(fù)記錄次數(shù)的增加,光盤劣化,容易受損。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明是為了解決上述問題而進行的,其目的在于,廣闊地確保光盤的測試區(qū)域。并且,還以抑制在該記錄測試區(qū)域上重復(fù)進行記錄測試的次數(shù)為目的。此外,本發(fā)明的目的還在于,將該光盤形成為不易受損的光盤,并且,能夠有效利用該記錄測試區(qū)域。
本發(fā)明的記錄方法,其是在光盤上進行數(shù)據(jù)記錄的記錄方法,所述光盤具有多個記錄層、且可改寫各記錄層上的數(shù)據(jù),所述記錄層具有作為用于對所述數(shù)據(jù)記錄時照射的光的功率進行調(diào)整的區(qū)域的功率調(diào)整區(qū)域,所述記錄方法的特征在于,在進行所述功率調(diào)整時,當在該光盤的半徑方向上,作為第一記錄層的功率調(diào)整區(qū)域的第一功率調(diào)整區(qū)域和作為第二記錄層的功率調(diào)整區(qū)域的第二功率調(diào)整區(qū)域之間的區(qū)域小于預(yù)定大小的情況下,對所述第一功率調(diào)整區(qū)域或所述第二功率調(diào)整區(qū)域之中具有大的已使用區(qū)域大小的區(qū)域進行擦除該已使用區(qū)域的擦除處理,所述第二記錄層設(shè)置于與所述第一記錄層相比更遠離所述光將要入射的面的位置。
根據(jù)本發(fā)明,能夠廣闊地確保光盤的測試區(qū)域。并且,能夠抑制在該記錄測試區(qū)域中重復(fù)進行記錄測試的次數(shù)。進一步,能夠?qū)⒃摴獗P形成為不易受損的光盤。此外,能夠有效利用該記錄測試區(qū)域。
附圖說明
圖1是示出實施方式1中的光盤的圖。
圖2是示出實施方式1中的記錄裝置的圖。
圖3是示出實施方式1中的光盤的記錄層和光束之間的關(guān)系的圖。
圖4是示出實施方式1中的第一層和第二層的位置偏移的圖。
圖5是示出實施方式1中的光盤的功率調(diào)整區(qū)域的使用方法的圖。
圖6是示出實施方式2中的光盤的功率調(diào)整區(qū)域的使用方法的圖。
圖7是示出實施方式3中的記錄裝置的功率調(diào)整的流程圖的圖
圖8是示出實施方式4中的光盤的功率調(diào)整區(qū)域的使用方法的圖。
具體實施方式
實施方式1
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