[發(fā)明專利]用于控制磁共振系統(tǒng)的方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200710096134.8
• 申請日: 2007-04-13
• 公開（公告）號: CN101055308A
• 公開（公告）日: 2007-10-17
• 發(fā)明（設(shè)計）人: J·尼斯特勒
• 申請（專利權(quán)）人: 西門子公司
• 主分類號: G01R33/34
• 分類號: G01R33/34
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司
• 代理人: 劉春元;魏軍

1.用于控制一種磁共振系統(tǒng)(1)以在一個檢查對象(0)中的至少 一特定體積范圍中實施磁共振測量的方法，其中所述磁共振系統(tǒng)(1)包 含有具有多個共振單元(6)的一個高頻天線(5)，該共振單元在不同的 發(fā)送模式(M₁、M₂、M₃、M₄、...)中可以被激勵以在包括所述檢查對象(0) 的一個檢查體積(4)中產(chǎn)生線性無關(guān)的高頻場分布，其具有以下方法步 驟：

a)在激勵所述高頻天線(5)的一個第一發(fā)送模式(M₁)的情況下， 在所述特定體積范圍中獲得代表所述高頻場分布的一個測量值分布(F₁)，

b)在所述特定體積范圍中就一特定評估判據(jù)來對所述測量值分布(F₁) 的均勻性進行評估，

并且，如果滿足所述評估判據(jù)，那么就利用所述第一發(fā)送模式(M₁) 來實施所期望的磁共振測量，

或者，如果不滿足所述評估判據(jù)，那么

c)在激勵所述高頻天線(5)的另一發(fā)送模式(M₂、M₃、M₄、...)的 情況下，在所述特定體積范圍中獲得代表所述高頻場分布的一個測量值分 布(F₂、F₃、F₄、...)，

d)根據(jù)到目前為止為所述不同發(fā)送模式(M₁、M₂、M₃、M₄、...)所測 量的測量值分布(F₁、F₂、F₃、F₄、...)的一個組合，來計算在所述特定 體積范圍中就均勻性而被優(yōu)化的一個測量值分布(F_K)，

e)就所述特定評估判據(jù)對在所述特定體積范圍中所計算的優(yōu)化測量 值分布(F_K)的均勻性進行評估，

并且，如果滿足所述評估判據(jù)，那么

根據(jù)在步驟d)中所計算的優(yōu)化測量值分布(F_K)來獲得一個優(yōu)化的 發(fā)送參數(shù)組(PS₀)，并利用所述的優(yōu)化發(fā)送參數(shù)組(PS₀)來實施所期望的 磁共振測量，

或者，如果不滿足所述評估判據(jù)，那么就利用另一發(fā)送模式(M₂、M₃、 M₄、...)來重復(fù)步驟c)至e)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一發(fā)送模式(M₁) 是所述高頻天線(5)的一個基本發(fā)送模式，并在步驟c)中在隨后獲得 所述測量值分布(F₂、F₃、F₄、...)的過程中分別激勵高頻天線的一個最 靠近的較高的發(fā)送模式(M₂、M₃、M₄、...)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其特征在于，在步驟d)中就均 勻性而優(yōu)化的測量值分布(F_K)基于的是到目前為止利用不同發(fā)送模式(M₁、 M₂、M₃、M₄、...)所測量的測量值分布(F₁、F₂、F₃、F₄、...)的一個線 性組合。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，所述不同發(fā)送模式(M₁、 M₂、M₃、M₄、...)的所述測量值分布(F₁、F₂、F₃、F₄、...)在構(gòu)成所述 線性組合時就其幅度而被加權(quán)。