[發明專利]多端口存儲裝置的測試操作無效
| 申請號: | 200710096090.9 | 申請日: | 2007-04-13 |
| 公開(公告)號: | CN101055767A | 公開(公告)日: | 2007-10-17 |
| 發明(設計)人: | 都昌鎬;鄭鎮一 | 申請(專利權)人: | 海力士半導體有限公司 |
| 主分類號: | G11C29/02 | 分類號: | G11C29/02 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務所 | 代理人: | 呂曉章;李曉舒 |
| 地址: | 韓國*** | 國省代碼: | 韓國;KR |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 多端 存儲 裝置 測試 操作 | ||
1.一種多端口存儲裝置,其包含:
多個輸入/輸出I/O墊;
多個端口,其經由所述I/O墊執行串行輸入/輸出數據傳輸;
多個存儲體,其用于執行與所述端口的并行I/O數據傳輸;
多個全局數據總線,其用于在所述端口與所述存儲體之間傳輸數據;
第一I/O控制器,配置在所述I/O墊與所述端口之間,并且用于控制所述端口與外部裝置之間的串行數據傳輸;
第二I/O控制器,配置在所述端口與所述全局數據總線之間,并用于控制所述端口與所述全局數據總線之間的并行數據傳輸;以及
測試I/O控制器,配置在所述I/O墊與所述全局數據總線之間,
其中,在測試操作模式期間,第一I/O控制器和第二I/O控制器阻斷經由所述端口的數據傳輸,并且所述測試I/O控制器經由所述全局數據總線將測試信號及測試輸入信號傳輸至所述存儲體而不穿過所述端口、且回應于所述測試信號經由所述全局數據總線自所述存儲體傳輸測試輸出信號。
2.如權利要求1的多端口存儲裝置,其中所述I/O墊的每一個包括:
通用I/O墊,其用于在所述測試操作期間接收所述測試信號;及
測試I/O墊,其用于接收所述測試輸入信號且輸出所述測試輸出信號。
3.如權利要求2的多端口存儲裝置,其中所述測試信號并行輸入至所述通用I/O墊。
4.如權利要求1的多端口存儲裝置,其中所述全局數據總線包括:
第一全局數據總線,其用于將所述測試輸出信號傳輸至所述測試I/O控制器;及
第二全局數據總線,其用于從所述測試I/O控制器接收所述測試信號及所述測試輸入信號。
5.一種多端口存儲裝置,其包含:
多個端口,其用于執行串行輸入/輸出I/O數據傳輸;
多個存儲體,其用于執行與所述端口的并行I/O數據傳輸;
多個全局數據總線,其用于在所述端口與所述存儲體之間傳輸數據;
第一I/O控制器,配置在外部裝置與所述端口之間,并用于控制所述端口與外部裝置之間的串行數據傳輸;
第二I/O控制器,配置在所述端口與所述全局數據總線之間,并用于控制所述端口與所述全局數據總線之間的并行數據傳輸;及
測試I/O控制器,配置在所述外部裝置與所述全局數據總線之間,
其中,在測試操作模式期間,第一I/O控制器和第二I/O控制器阻斷經由所述端口的數據傳輸,并且所述測試I/O控制器基于自所述外部裝置輸入的測試命令/地址而產生測試命令、且經由所述全局數據總線傳輸測試I/O數據。
6.如權利要求5的多端口存儲裝置,其中所述第一I/O控制器在正常操作模式期間在所述端口與所述外部裝置之間傳輸數據且在所述測試操作模式期間回應于在所述測試操作模式期間所啟用的測試啟用信號而阻斷所述串行數據傳輸。
7.如權利要求5的多端口存儲裝置,其中所述第一I/O控制器包括:
第一三態緩沖器,其用于控制自所述外部裝置至所述端口的數據傳輸;及
第二三態緩沖器,其用于控制自所述端口至所述外部裝置的數據傳輸。
8.如權利要求5的多端口存儲裝置,其中所述測試I/O控制器包括:
命令解碼器,其用于解碼所述測試命令/地址,由此產生內部讀取命令及內部寫入命令,緩沖并輸出所述測試命令/地址及存儲體地址,且產生全局數據總線選擇信號;
第一多工器,其用于回應于所述內部寫入命令而輸出所述測試命令/地址、所述存儲體地址及所述測試I/O數據作為測試輸入信號;
解多工器,其用于回應于所述全局數據總線選擇信號而將所述測試輸入信號傳輸至所述第二I/O控制器;
第二多工器,其用于回應于所述全局數據總線選擇信號而輸出自所述全局數據總線傳輸的測試輸出信號;及
第三三態緩沖器,其用于回應于所述內部讀取命令而輸出所述測試輸出信號。
9.如權利要求6的多端口存儲裝置,其中所述命令解碼器受控于所述測試啟用信號。
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