[發明專利]非易失性半導體存儲裝置的驗證方法有效
| 申請號： | 200710092186.8 | 申請日： | 2007-03-30 |
| 公開（公告）號： | CN101047033A | 公開（公告）日： | 2007-10-03 |
| 發明（設計）人： | 三宅博之;納光明;宮崎彩 | 申請（專利權）人： | 株式會社半導體能源研究所 |
| 主分類號： | G11C16/14 | 分類號： | G11C16/14 |
| 代理公司： | 中國專利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 劉杰;劉宗杰 |
| 地址： | 日本神奈*** | 國省代碼： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 非易失性 半導體 存儲 裝置 驗證 方法 | ||
【說明書】：
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