[發明專利]用于初始化位置測量系統的方法

有效

• 申請號: 200710092034.8
• 申請日: 2007-04-04
• 公開（公告）號: CN101050957A
• 公開（公告）日: 2007-10-10
• 發明（設計）人: W·霍爾查普菲爾;K·拉舍爾
• 申請（專利權）人: 約翰尼斯海登海恩博士股份有限公司
• 主分類號: G01B21/00
• 分類號: G01B21/00;G01B21/24
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司
• 代理人: 曹若;劉華聯

1.用于將在至少兩個自由度(Rx、Ry、Z)中相對于測量框架 (6)移動的目標(1)上的位置測量系統初始化的方法，其中所述位 置測量系統每個自由度(Rx、Ry、Z)具有至少一個位置測量儀器(10、 11、12)，其中所述位置測量儀器(10、11、12)分別具有標尺(2) 以及分別具有配屬于所述標尺(2)的掃描頭(5)，而該標尺(2) 則具有用于測量相對位置的增量通道(3)和用于測量絕對位置的絕 對通道(4)，并且所述掃描頭(5)用于讀出增量通道(3)和絕對 通道(4)，其特征在于，在初始化步驟(100)中用第一分析法對所 述增量通道(3)或者絕對通道(4)進行分析，并且形成分析結果， 在定向步驟(200)中，借助于所述分析結果使所述移動的目標(1) 相對于所述測量框架(6)進行定向，并且在檢測步驟(300)中用在 所述掃描頭(5)及所屬的標尺(2)的定向方面具有微小公差的第二 分析法對所述絕對通道(4)進行分析，并且為每個自由度(Rx、Ry、 Z)確定精確的絕對位置；在所述初始化步驟(100)中用所述第一分 析法對所述絕對通道(4)進行分析，并且為每個自由度(Rx、Ry、 Z)確定大致的絕對位置作為分析結果，其中所述第一分析法在掃描 頭(5)及所屬的標尺(2)的定向方面具有大公差；借助于在初始化 步驟(100)中所檢測到的大致的絕對位置，使所述目標(1)相對于 測量框架(6)進行定向，并且由此使所述掃描頭(5)相對于標尺(2) 進行定向，從而在檢測步驟(300)中遵守微小的公差。

2.按權利要求1所述的方法，其特征在于，所述絕對通道(4) 具有基準標記，借助于所述第一和第二分析法對該基準標記進行分 析。

3.按權利要求2所述的方法，其特征在于，所述第一分析法僅 僅允許大致地將所述基準標記配屬于增量通道(3)，并且所述第二 分析法則保證將所述基準標記精確地配屬于增量通道(3)。

4.按權利要求1所述的方法，其特征在于，所述絕對通道(4) 具有代碼，在該代碼中對多個絕對位置進行編碼，并且借助于所述第 一和第二分析法對該代碼進行分析。

5.按權利要求4所述的方法，其特征在于，僅僅借助于所述絕 對通道(4)來確定所述大致的絕對位置。

6.用于將在至少兩個自由度(Rx、Ry、Z)中相對于測量框架 (6)移動的目標(1)上的位置測量系統初始化的方法，其中所述位 置測量系統每個自由度(Rx、Ry、Z)具有至少一個位置測量儀器(10、 11、12)，其中所述位置測量儀器(10、11、12)分別具有標尺(2) 以及分別具有配屬于所述標尺(2)的掃描頭(5)，而該標尺(2) 則具有用于測量相對位置的增量通道(3)和用于測量絕對位置的絕 對通道(4)，并且所述掃描頭(5)用于讀出增量通道(3)和絕對 通道(4)，其特征在于，在初始化步驟(100)中用第一分析法對所 述增量通道(3)或者絕對通道(4)進行分析，并且形成分析結果， 在定向步驟(200)中，借助于所述分析結果使所述移動的目標(1) 相對于所述測量框架(6)進行定向，并且在檢測步驟(300)中用在 所述掃描頭(5)及所屬的標尺(2)的定向方面具有微小公差的第二 分析法對所述絕對通道(4)進行分析，并且為每個自由度(Rx、Ry、 Z)確定精確的絕對位置；在初始化步驟(100)中用所述第一分析法 對所述增量通道(3)進行分析，并且在該過程中為每個自由度(Rx、 Ry、Z)確定所述增量通道(3)的掃描信號(9、A、B)的信號特 性作為分析結果；借助于在初始化步驟(100)中所檢測得到的信號 特性，使所述目標(1)相對于測量框架(6)進行定向，并且由此使 所述掃描頭(5)相對于所述標尺(2)進行定向，從而在檢測步驟(300) 中遵守微小的公差。

7.按權利要求6所述的方法，其特征在于，所述掃描信號(9、 A、B)的信號特性是信號強度。