[發明專利]生產計劃方法和生產計劃系統

無效

• 申請號: 200710091666.2
• 申請日: 2007-04-03
• 公開（公告）號: CN101055635A
• 公開（公告）日: 2007-10-17
• 發明（設計）人: 石橋尚也;瀧澤升;中込千治;立石淳
• 申請（專利權）人: 日立環球儲存科技荷蘭有限公司
• 主分類號: G06Q10/00
• 分類號: G06Q10/00
• 代理公司: 中原信達知識產權代理有限責任公司
• 代理人: 李濤;鐘強

1.一種通過使用生產能力評估計算來提取制造(生產)不可得到數量的原因參數項的生產計劃方法，其特征在于包括：

生產能力評估步驟，其對于每個要求天和每個產品，通過使用生產能力評估計算，計算以前生產計劃的以前制造(生產)可得到數量和當前生產計劃的當前制造(生產)可得到數量；

目標生產線提取步驟，通過將在生產能力評估步驟處對于每個要求日和每個產品計算的以前制造(生產)可得到數量與當前制造(生產)可得到數量做比較，提取在其中發生變化的產品的生產計劃中使用的目標生產線；

參數項提取步驟，從在目標生產線提取步驟處提取的生產線，提取在關于所有產品的生產能力評估計算中使用的參數項；

原因參數清單創建步驟，對于在參數項目提取步驟處抽取的每個參數項，通過將在以前生產計劃時的數據與當前生產計劃時的數據進行差值比較，將參數項目規定做為變化的原因，并且列出所規定的原因參數項；

重新計算步驟，通過使用生產能力評估計算，以及通過基于在原因參數清單創建步驟處創建的原因參數清單，順序地將除了規定的原因參數項之外的原因參數項改變為在以前生產計劃時的數據，以及對于規定的參數項輸入在當前生產計劃時的數據，針對規定原因參數項的每一個重新計算制造(生產)可得到數量k；及

影響指數計算步驟，基于如下表達式(1)和基于在重新計算步驟處重新計算的規定原因參數項的每一個的制造(生產)可得到數量k，計算由規定原因參數項k給予制造(生產)可得到數量的影響指數k，

影響指數k＝(以前制造(生產)可得到數量-制造(生產)可得到數量k)/(以前制造(生產)可得到數量-當前制造(生產)可得到數量)(1)

其中，k指示原因參數清單的自變量。

2.根據權利要求1所述的生產計劃方法，其特征在于，在影響指數計算步驟處，計算的影響指數k被顯示在顯示裝置上。

3.根據權利要求1或2所述的生產計劃方法，其特征在于，包括：對策計劃步驟，其通過對具有在所述影響指數計算步驟處計算的影響指數k中的較大影響指數k的規定原因參數項校正其在當前生產計劃時的數據來形成對策。

4.根據權利要求1、2或3所述的生產計劃方法，其特征在于，在所述生產能力評估步驟處，在顯示裝置上顯示對于每個要求日和每個產品計算的以前制造(生產)可得到數量和當前制造(生產)可得到數量。

5.根據權利要求1、2或3所述的生產計劃方法，其特征在于，在所述原因參數清單創建步驟處，在顯示裝置上顯示所述列出和規定的原因參數項。

6.一種通過使用生產能力評估計算來提取制造(生產)不可得到數量的原因參數項的生產計劃系統，其特征在于包括：

生產能力評估裝置，用來對于每個要求天和每個產品，通過使用生產能力評估計算來計算以前生產計劃的以前制造(生產)可得到數量和當前生產計劃的當前制造(生產)可得到數量；

目標生產線抽取裝置，用來通過將由生產能力評估裝置計算的對于每個要求日和每個產品計算的以前制造(生產)可得到數量與當前制造(生產)可得到數量做比較，提取在其中發生變化的產品生產計劃中使用的目標生產線；

參數項目提取裝置，用來從由所述目標生產線提取裝置所提取的生產線，來提取在對于所有產品的生產能力評估計算中所使用的參數項；

原因參數清單創建裝置，用來通過對于由所述參數項提取裝置提取的每個參數項將其在以前生產計劃時的數據與當前生產計劃時的數據進行差值比較，把參數項規定為變化的原因，并且列出規定的原因參數項；

重新計算裝置，用來通過使用生產能力評估計算，通過基于由原因參數清單創建裝置創建的原因參數清單，順序地將除了規定原因參數項之外的原因參數項改變為在以前生產計劃時的數據，以及對于規定的參數項輸入在當前生產計劃時的數據，對于規定的原因參數項的每一個重新計算制造(生產)可得到數量k；及

影響指數計算裝置，用來基于如下表達式(2)和基于由所述重新計算裝置重新計算的規定原因參數項的每一個的制造(生產)可得到數量k，計算由規定原因參數項k給予制造(生產)可得到數量的影響指數k，

影響指數k＝(以前制造(生產)可得到數量-制造(生產)可得到數量k)/(以前制造(生產)可得到數量-當前制造(生產)可得到數量)(2)

其中，k指示原因參數清單的自變量。