[發明專利]半導體裝置及其測試方法無效
| 申請號： | 200710088744.3 | 申請日： | 2007-03-22 |
| 公開（公告）號： | CN101042939A | 公開（公告）日： | 2007-09-26 |
| 發明（設計）人： | 服部孝;橋詰由美子;西野龍宏;池田浩司 | 申請（專利權）人： | 恩益禧電子股份有限公司 |
| 主分類號： | G11C29/48 | 分類號： | G11C29/48;G11C29/12 |
| 代理公司： | 中原信達知識產權代理有限責任公司 | 代理人： | 孫志湧;陸錦華 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 半導體 裝置 及其 測試 方法 | ||
【說明書】：
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