[發(fā)明專利]圖像傳感器及其制作方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200710088406.X | 申請日: | 2007-03-22 |
| 公開(公告)號: | CN101271863A | 公開(公告)日: | 2008-09-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 劉應(yīng)勵 | 申請(專利權(quán))人: | 力晶半導(dǎo)體股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/82 | 分類號: | H01L21/82;H01L27/146 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務(wù)所 | 代理人: | 陶鳳波 |
| 地址: | 中國臺灣新竹*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 圖像傳感器 及其 制作方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明提供一種圖像傳感器,尤指一種包含有設(shè)于像素電極之間的阻障元件的圖像傳感器。
背景技術(shù)
隨著科技發(fā)展,各種圖像傳感器已被大量應(yīng)用于數(shù)位電子商品中,例如掃描器或數(shù)位相機等產(chǎn)品,而目前較為廣泛的圖像傳感器包括互補式金屬氧化物半導(dǎo)體(complementary?metal?oxide?semiconductors,CMOS)或電荷耦合裝置(charge?coupled?device,CCD)。上述圖像傳感器皆為硅半導(dǎo)體裝置,可用來捕捉光子,然后將光子轉(zhuǎn)換成電子,經(jīng)傳輸后再次轉(zhuǎn)換為可量測的電壓,而得到數(shù)位數(shù)據(jù)。
目前業(yè)界已研發(fā)出一種光導(dǎo)體覆有源像素(photoconductor-on-active-pixel,POAP)圖像傳感器,其結(jié)構(gòu)將含有氫化非晶硅(hydrogenated?amorphous?silicon,α-Si:H)的感光元件堆疊于CCD或CMOS元件上,能得到比傳統(tǒng)CCD或CMOS圖像傳感器有更良好表現(xiàn)的圖像傳感器。由于光導(dǎo)體覆有源像素圖像傳感器具有特殊的堆疊結(jié)構(gòu),因此具有高集光有效面積比(fill?factor)的優(yōu)點,能使得整個像素面積都能用來感測光子,再配合α-Si:H材料有效轉(zhuǎn)換能量的特性,便能達(dá)到高量子效率。然而,在已知研究中,光導(dǎo)體覆有源像素圖像傳感器仍然有串?dāng)_(cross-talk)、圖像延遲(image?lag)以及漏電流信號等問題。其中,載流子串?dāng)_相鄰像素的問題尤其會造成嚴(yán)重的解析度與均勻性不足的問題,也會在像素間造成色彩上的串?dāng)_,導(dǎo)致色彩失真。
請參考圖1與圖2,圖1為已知一光導(dǎo)體覆有源像素的圖像傳感器10的側(cè)剖面示意圖,圖2為圖1所示的像素電極間的模擬電位圖。已知圖像傳感器10包含多個像素14a、14b以及設(shè)于基底12上的介電層16、設(shè)于各像素14a、14b內(nèi)的多個像素電路(圖未示)、設(shè)于這些像素電路以及介電層16上的多個像素電極18a、18b、設(shè)于像素電極18a、18b上的光導(dǎo)層20、以及設(shè)于光導(dǎo)層20上的透明導(dǎo)電層28,其中光導(dǎo)層20由下至上包含n型層(n-layer)22、本征層(intrinsic?layer,i-layer)24以及p型層(p-type?layer)26,形成所謂的堆疊p-i-n層結(jié)構(gòu),用來接受光線并將光線依照強度轉(zhuǎn)換成對應(yīng)的電荷量。
然而,在照光情形下,圖像傳感器10的不同像素電極18a、18b會具有不同的電壓,導(dǎo)致相鄰像素14a、14b之間產(chǎn)生具有電壓差的電場。舉例而言,如果照光后像素電極18b具有高電位VH,而像素電極18a具有低電位VL,透明導(dǎo)電層28處于接地狀態(tài),則在相鄰像素14a、14b之間會發(fā)生漏電流,由具有高電位VH的像素電極18b流至相鄰具有低電位VL的像素電極18a,如圖2中以箭頭表示漏電流的移動方向。因此發(fā)生串?dāng)_問題,而影響了圖像感測的正確性,導(dǎo)致感測結(jié)果失真。
因此,如何改良光導(dǎo)體覆有源像素的圖像傳感器結(jié)構(gòu),以避免相鄰像素間的串?dāng)_問題而提供良好的圖像感測結(jié)果,仍然為業(yè)界亟需解決的議題。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的主要目的在于提供一種具有阻障元件的光導(dǎo)體覆有源像素圖像傳感器,以解決上述已知圖像傳感器的串?dāng)_問題。
根據(jù)本發(fā)明,提供了一種制作圖像傳感器的方法。首先提供基底,其表面定義有多個像素。接著在基底上形成多個設(shè)于各該像素內(nèi)的像素電極,然后在相鄰像素電極之間填入阻障元件,其包含有高介電常數(shù)(high-k)材料。最后在阻障元件以及像素電極上依序形成光導(dǎo)層與透明導(dǎo)電層。
根據(jù)本發(fā)明,另披露一種圖像傳感器,其包含半導(dǎo)體基底、定義于該半導(dǎo)體基底上的多個像素、以及依序設(shè)于像素內(nèi)的各像素電極上的光導(dǎo)層與透明導(dǎo)電層。本發(fā)明圖像傳感器另包含設(shè)于任二相鄰的像素電極之間的阻障元件,且遮蔽元件包含有高介電常數(shù)材料。
由于本發(fā)明在圖像傳感器的各像素電極之間設(shè)置具有高介電常數(shù)材料的阻障元件中,因此在相鄰像素電極之間會形成較大的能障,以避免漏電流由像素電極流向相鄰像素電極或透明導(dǎo)電層中,所以可以有效避免串?dāng)_問題,提高圖像傳感器的正確性。
附圖說明
圖1為已知一光導(dǎo)體覆有源像素的圖像傳感器的側(cè)剖面示意圖。
圖2為圖1所示的像素電極間的模擬電位圖。
圖3至8a為本發(fā)明圖像傳感器的制作方法的工藝示意圖。
圖8b為本發(fā)明圖像傳感器的另一實施例的剖面示意圖。
圖9為已知圖像傳感器與本發(fā)明圖像傳感器的電位圖表。
圖10為本發(fā)明圖像傳感器的兩相鄰像素的模擬電位圖。
附圖標(biāo)記說明
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





