[發明專利]墨粉密度估計方法和設備以及墨粉供應方法和設備

無效

• 申請號: 200710086107.2
• 申請日: 2007-03-01
• 公開（公告）號: CN101118402A
• 公開（公告）日: 2008-02-06
• 發明（設計）人: 安明國;辛圭鐵
• 申請（專利權）人: 三星電子株式會社
• 主分類號: G03G15/08
• 分類號: G03G15/08;G03G15/00
• 代理公司: 北京銘碩知識產權代理有限公司
• 代理人: 郭鴻禧;劉奕晴

本申請要求于2006年7月31日在韓國知識產權局提交的第 10-2006-0072252號韓國專利申請的利益，該申請包含于此，以資參考。

技術領域

本發明涉及使用兩種組分的顯影劑的電子照相成像設備。更具體地說， 本發明涉及墨粉密度估計方法和用于在顯影單元中保持統一墨粉密度的設 備。本發明還指出針對墨粉供應方法、使用墨粉密度估計方法的設備以及保 持統一墨粉密度的設備。

背景技術

在使用兩種組分的顯影劑的成像設備中，顯影單元中的墨粉密度被保持 在6％到10％的范圍，以形成具有統一密度的圖像。保持統一墨粉密度的一 種方法是在顯影單元中安裝墨粉密度傳感器。由于墨粉密度傳感器很昂貴， 所以已經開發了另一種不使用墨粉密度傳感器的方法。在這種方法中，輸出 圖像的點數被計算，以測量消耗的墨粉量，并且根據測量的墨粉量向顯影單 元供應墨粉。但是，由于消耗的墨粉量除了隨點數而變化，還隨顯影電壓、 溫度、濕度和各種其他外界因素而變化，所以在消耗的墨粉量的測量中可能 發生誤差。

為了解決這個問題，已經開發了另一種估計顯影單元中的墨粉密度的方 法。在中間轉印帶(ITB)上形成的測試圖案被用于測量墨粉密度，測試圖案的 光反射(photo-reflectance)被測量，并且使用測量的測試圖案的反射來估計顯影 單元中的墨粉密度。所述測試圖案是形成的允許估計墨粉密度的具有預定的 長度和寬度的墨粉圖像。這種方法不需要墨粉密度傳感器，并且可根據測試 圖案的密度相對精確地控制墨粉密度。但是，當測試圖案的密度由于除顯影 單元中的墨粉密度的改變之外的溫度、濕度、電壓或者其他外界因素的改變 而變化時，很難確定原因。因此，即使當顯影單元中的墨粉密度不在其設置 范圍之外時，顯影單元中的墨粉密度也可能被測量為在其設置范圍之外。在 這種情況下，用于保持測試圖案的密度的墨粉被錯誤地供應，從而引起墨粉 供應過量或者不足。這可引起另外的問題，諸如，墨粉遺撒、顯影劑的泄漏 和顯影劑的驅動轉距的增加。

發明內容

本發明提供一種墨粉密度估計方法和設備，其中，由墨粉形成的具有多 個灰度級的測試圖案的光反射被測量以測量墨粉密度。以這種方式，可以在 不管溫度、濕度或者其他外部因素的情況下精確地估計顯影單元中的墨粉密 度。

本發明還提供一種墨粉供應方法和設備，其中，盡管測試圖案的光反射 隨外部因素的改變而變化，但是也可精確地估計墨粉密度以監視墨粉密度的 異常狀態。在異常狀態下，墨粉被供應并且不會被過多供應或者供應不足， 從而可將墨粉密度保持在統一的水平。

根據本發明的一方面，提供了墨粉密度估計方法，包括：(a)感測由墨 粉形成的具有多個灰度級的測試圖案的光反射；(b)計算根據測試圖案的多 個灰度級的光反射的改變率；和(c)基于所述改變率估計墨粉密度。

在本發明的以上方面中，所述墨粉密度估計方法還可包括：使用墨粉形 成具有多個灰度級的測試圖案。

此外，步驟(b)可包括：基于根據測試圖案的多個灰度級的光反射的改 變生成線性方程；和通過使用線性方程的斜率計算所述改變率。

在步驟(c)中，通過使用關于與預定光反射對應的墨粉密度的信息來估 計與所述改變率對應的墨粉密度。

根據本發明的另一方面，提供一種墨粉供應方法，包括：(a)通過使用 消耗的和供應的墨粉量估計墨粉密度；(b)根據在步驟(a)中估計的墨粉密 度是否在設置范圍內來感測由墨粉形成的具有多個灰度級的測試圖案的光反 射，；(c)基于根據測試圖案的多個灰度級的光反射的改變率來估計墨粉密 度；和(d)根據在步驟(c)估計的墨粉密度來供應墨粉。

在本發明的以上方面中，所述的墨粉供應方法還可包括：(e)當在步驟 (a)估計的墨粉密度在設置范圍內時，感測使用墨粉形成的具有預定灰度級 的測試圖案的光反射；和根據在步驟(e)中感測的光反射和參考值的比較結 果控制墨粉供應，其中，所述參考值是與參考密度對應的具有預定灰度級的 測試圖案的光反射。

根據本發明的另一方面，提供一種墨粉密度估計設備，包括：傳感器， 感測使用墨粉形成的具有多個灰度級的測試圖案的光反射；和密度估計單元， 基于根據測試圖案的多個灰度級的光反射的改變率來估計墨粉密度。

在本發明的以上方面中，所述墨粉密度估計設備還可包括：測試圖案形 成單元，使用墨粉形成具有多個灰度級的測試圖案。