[發(fā)明專利]自動化測量發(fā)光二極管的測試設(shè)備及方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200710085775.3
• 申請日: 2007-03-14
• 公開（公告）號: CN101266276A
• 公開（公告）日: 2008-09-17
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 李昌;李文凱
• 申請（專利權(quán)）人: 緯創(chuàng)資通股份有限公司;緯創(chuàng)資通(昆山)有限公司
• 主分類號: G01R31/01
• 分類號: G01R31/01;G01R31/02
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務(wù)所
• 代理人: 王志森;黃小臨

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種自動化測試設(shè)備，特別涉及一種具有自動測試發(fā)光二極管好壞的自動化測試設(shè)備。

背景技術(shù)

在現(xiàn)在的生活當中，發(fā)光二極管的使用是越來越普及。在發(fā)光二極管產(chǎn)量大的情況下，生產(chǎn)在線要確實而且快速地測試發(fā)光二極管的作用是否正常就非常重要。現(xiàn)有技術(shù)當中，在制造的生產(chǎn)在線要測試發(fā)光二極管是否正常通常都是給予發(fā)光二極管固定的電壓之后，再利用人的眼睛去觀察其是否發(fā)光或是發(fā)光的明亮程度來判斷發(fā)光二極管的功能是否正常。但是如此一來，藉由測試者的人為判斷上難免會有疏失。而且測試者無法量化發(fā)光二極管的發(fā)光的程度，也不易界定一個良好的發(fā)光二極管的標準亮度范圍為何。另一方面，這種測試方法也會增加在生產(chǎn)在線組裝的時間及治具的耗損，進而增加生產(chǎn)成本。

因此，需要一種新的自動化測試設(shè)備與測試的方法來解決現(xiàn)有技術(shù)所發(fā)生的問題。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的主要目的是提供一種自動化測試設(shè)備，其具有自動測試發(fā)光二極管的功能。

本發(fā)明的另一主要目的是提供一種自動化測試設(shè)備自動測試發(fā)光二極管的方法。

為達成上述的目的，本發(fā)明的自動化設(shè)備包括測試治具、待測物設(shè)置處、電源供應(yīng)裝置與測量裝置。測試治具具有感光組件，感光組件可為光敏電阻、光二極管或是光伏打電池等會依照光照程度來改變其特性的組件。待測物設(shè)置處用以放置一發(fā)光二極管。并且待測物設(shè)置處與電源供應(yīng)裝置電性連接，電源供應(yīng)裝置會提供一固定電壓來給發(fā)光二極管使用。測量裝置用來測量感光組件在接受光照后的特性變化，并且可以依照感光組件的不同來決定要測量阻抗值、電壓值或是電流值。

在本發(fā)明中的自動測試發(fā)光二極管的方法為：自動化測試設(shè)備開始一自動化測試流程。電源供應(yīng)裝置會提供待測的發(fā)光二極管一個固定的電壓。自動化測試設(shè)備的測量裝置會測量感光組件的特性變化。接著自動化測試設(shè)備自行判斷該特性值是否超過一定值。若該特性值超過一定值，則輸出第一信號。在本發(fā)明的一實施例中，是以光敏電阻作為感光組件，并測量光敏電阻的阻抗變化。本實施例依照光敏電阻的特性，判定為第一信號即代表待測的發(fā)光二極管不正常。發(fā)光二極管不正常的狀況可能是無法發(fā)光或是發(fā)出的光亮度不足。若沒有超過一定值，則輸出第二信號。第二信號代表待測的發(fā)光二極管正常的信號。

藉由上述的步驟流程，自動化測試設(shè)備即可自動檢測發(fā)光二極管是否正常。

附圖說明

圖1是本發(fā)明的自動化測試設(shè)備的示意圖。

圖2是本發(fā)明的自動化測試設(shè)備的第一實施例的電路圖。

圖3是本發(fā)明的自動化測試設(shè)備的第二實施例的電路圖。

圖4是本發(fā)明執(zhí)行自動化測試的步驟流程圖。

附圖符號說明

自動化測試設(shè)備10

測試治具20

感光組件21

光敏電阻211

光二極管212

串聯(lián)電阻213

待測物設(shè)置處30

發(fā)光二極管31

電源供應(yīng)裝置40

測量裝置50

具體實施方式

為進一步了解本發(fā)明的技術(shù)內(nèi)容，特舉一個較佳具體實施例說明如下。

以下請參考圖1所示關(guān)于本發(fā)明自動化測試設(shè)備的示意圖。本發(fā)明的自動化設(shè)備10包括測試治具20、待測物設(shè)置處30、電源供應(yīng)裝置40與測量裝置50。測試治具20具有感光組件21，感光組件21可為光敏電阻、光二極管(Photodiode)或是光伏打電池(Photovoltaic)等會依照接受光照的程度來改變其特性的組件，但本發(fā)明并不以此為限。待測物設(shè)置處30用以放置一待測物，在本發(fā)明中為發(fā)光二極管31。并且待測物設(shè)置處30與電源供應(yīng)裝置40電性連接，電源供應(yīng)裝置40會提供一固定電壓來給發(fā)光二極管31使用。測量裝置50用來測量感光組件21在接受光照后的特性變化，并且可以依照感光組件21的不同，來決定要測量阻抗值、電壓值或是電流值的變化。

接下來請參考圖2關(guān)于本發(fā)明的自動化測試設(shè)備的第一實施例的電路圖。

在本實施例中，感光組件21是光敏電阻211。光敏電阻211可利用硫化鎘制成。光敏電阻211的特性為接受到光照后，其阻抗值會減少。因此測量裝置50所要測量的就是光敏電阻211的阻抗變化。電源供應(yīng)裝置40提供一固定電壓來給發(fā)光二極管31，使發(fā)光二極管31能發(fā)出光亮。如此一來，光敏電阻211就會接收到光照，然后再依照其光照程度的不同來產(chǎn)生阻抗變化。

接著請參考圖3關(guān)于本發(fā)明的自動化測試設(shè)備的第二實施例的電路圖。