[發明專利]試樣尺寸測定方法及試樣尺寸測定裝置有效
| 申請號： | 200710085576.2 | 申請日： | 2007-03-12 |
| 公開（公告）號： | CN101038670A | 公開（公告）日： | 2007-09-19 |
| 發明（設計）人： | 諸熊秀俊;酢谷拓路;松岡良一;小室仁;杉山明之 | 申請（專利權）人： | 株式會社日立高新技術 |
| 主分類號： | G06T7/00 | 分類號： | G06T7/00;G01B11/02 |
| 代理公司： | 中科專利商標代理有限責任公司 | 代理人： | 李貴亮 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 試樣 尺寸 測定 方法 裝置 | ||
【權利要求書】：
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