[發明專利]用于互連系統的改良接觸器

無效

• 申請號: 200710084161.3
• 申請日: 2007-02-17
• 公開（公告）號: CN101140295A
• 公開（公告）日: 2008-03-12
• 發明（設計）人: 馮偉強
• 申請（專利權）人: 杰馮科技有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04;G01R1/067
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司
• 代理人: 王永建

技術領域

本發明總體上涉及集成電路(以下稱為IC)的測試，尤其是涉及用于測試插座的接觸器(或觸頭)，該接觸器連接IC器件的引線和測試器的印刷電路板，以防止該引線和該測試插座的接觸器被損壞和高用量耗損。

背景技術

IC器件在當今工業中具有許多應用。為了提供高效率和不間斷的運作，它們必須被測試，以確保高質量的工業要求。IC器件的這種測試和老化通常需要由它們的引線與測試插座的相應接觸器相接合而驅動該器件，測試插座的接觸器依次與測試插座或者測試器的印刷電路板的端子電氣連通。期望這種IC器件能夠在手動和自動測試器中進行測試。在現有技術已知的方法中，“采集和放置”或者重力供給處理采用了對現有手動測試插座的修改，以構造與測試器連接的專用測試插座。

這種類型的測試插座通常包括插座外殼和內裝組件。插座外殼設有順應接觸器陣列，而內裝組件則鉸接在插座外殼的一端。當IC器件位于測試插座中時，其引線被固定于內裝組件相對的另一端。IC器件通過不同的裝置排列在插座外殼中，以引導該引線與測試插座中的對應接觸器連接。

在傳統實踐中，這種測試插座中的接觸器通常形成有S形臂。S形臂的上、下臂的末端充當連接IC的引線和測試器的印刷電路板的接觸器。接觸器位于插座外殼中以固定其末端位置。接觸器被適當地成形，以用于與IC器件接合，相反的接觸器末端與焊盤/引線的接合將不會啟動所需的滑觸(或摩擦接觸)作用。傳統接觸器的一個主要缺點是整個部件具有相同的厚度。諸如QFN/MLP的新型IC器件具有焊盤/引線并且在模制過程中通常具有過多的模制毛刺或焊料掩蔽層。這通常與接觸探針相干涉，從而導致測試失敗。由于較窄的測試焊盤，特定IC設計配套中的較窄焊料掩蔽層也會增大測試失敗的可能性。在此方面，具有這些過模制焊盤/引線結構的IC器件將不能被測試或者由于傳統的接觸針寬度與焊盤/引線寬度相同而導致的不良接觸將不能穿透較窄的凹陷或扁平器件的焊盤/引線以完成良好測試，這樣測試效率降低并且需要重新測試。為了重新測試這種較窄的凹陷或者扁平器件焊盤/引線，接觸器需要被改變為更薄的傳統接觸器并且采用相對的插座。因此，在測試期間，特別是在具有不同類型的焊盤/引線結構的IC器件的測試中，對于每個器件必須采用不同的接觸器，從而使得需要具有不同形狀和結構的三種不同接觸器。這只會使事情復雜化并且需要更長的時間。因此，需要提供一種新型接觸器，其可用于具有不同焊盤/引線形狀和結構的IC器件。這已經成為本發明的主要目的。

因此，本發明涉及一種改良的測試接觸器，其用于將待測試IC器件的引線與印刷電路板上的相應端子電連接。根據本發明的裝置能夠測試類似的焊盤結構，而不需要改變整個插座。

發明內容

因此，本發明的一個主要目的在于提供一種接觸器，其用于將待測試的集成電路器件的引線與印刷電路板上的相應端子電連接。

本發明的另一個目的在于提供一種接觸器，其對于可接受的高精度測試是機械和熱穩定的，并且適用于不同的焊盤/引線結構。

本發明的又一個目的在于提供一種接觸器，其具有與引線之間的改進滑觸作用，以改良的穿透性提供更好的接觸和更好的抗磨損和斷裂性能。

本發明的這些和其它目的將通過以下方式實現，即提出一種接觸器，其設置在用于測試集成電路器件或類似物的測試插座中，以將待測試的所述集成電路器件的引線與印刷電路板上的相應端子電連接，所述接觸器包括：

接觸器本體；

適于電接合所述引線的第一臂；

所述第一臂設有第一接合裝置，以及

適于電接合所述印刷電路板上的所述對應端子的第二臂；

所述第二臂設有第二接合裝置，

所述第一臂和所述第二臂位于所述接觸器本體的相對末端處，其特征在于，

所述第一接合裝置設有用于實現與所述引線之間的改進滑觸作用的滑觸裝置。

本發明總體上涉及一種用于測試插座的接觸器，其用于在測試期間使IC器件的引線與測試插座的印刷電路板相連接。總的來說，該接觸器具有接觸器本體、第一臂和第二臂，它們結合起來呈S形。第一臂適于電接合待測試的IC器件的引線。為了提供改進的接合，第一臂設有第一接合裝置，其具有呈延伸端頭(extended?tip)形式的滑觸裝置。第二臂設有第二接合裝置，該第二臂適于將接觸器與測試插座的印刷電路板上的對應端子電接合。第一接合裝置設有呈延伸端頭形式的滑觸裝置，以用于實現與引線之間的改進的滑觸作用。該接觸器的這種結構有助于防止引線和測試插座的接觸器被損壞和高用量耗損。

附圖說明