[發明專利]可錄式光盤刻錄品質的動態檢測方法無效
| 申請號： | 200710079234.X | 申請日： | 2007-02-13 |
| 公開（公告）號： | CN101246700A | 公開（公告）日： | 2008-08-20 |
| 發明（設計）人： | 范綱銘;翁勢凱 | 申請（專利權）人： | 建興電子科技股份有限公司 |
| 主分類號： | G11B7/0045 | 分類號： | G11B7/0045;G11B7/007 |
| 代理公司： | 中科專利商標代理有限責任公司 | 代理人： | 周國城 |
| 地址： | 臺灣省*** | 國省代碼： | 中國臺灣;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 可錄式 光盤 刻錄 品質 動態 檢測 方法 | ||
1.一種可錄式光盤刻錄品質的動態檢測方法，包括下列步驟：
在一可錄式光盤的一數據區中設定一檢測位置；
利用一最佳刻錄功率在該數據區進行一數據刻錄動作；
當該可錄式光盤該數據區上的刻錄位置大于或等于該檢測位置時，暫停該數據刻錄動作；
讀取先前記錄在該可錄式光盤軌道上的一刻錄數據并進行一最佳化功率校正動作后更新該最佳刻錄功率并計算出一抖動值；
當該抖動值遠大一規范值時，降低刻錄速度；
根據該抖動值更新該檢測位置，其中當該抖動值小于該規范值時，更新的該檢測位置被設定為大于一基本距離，當該抖動值等于或大于該規范值時，更新的該檢測位置被設定為小于該基本距離；以及
利用更新后的該最佳刻錄功率再次在該數據區啟動該數據刻錄動作，直到該刻錄位置大于或等于更新后的該檢測位置。
2.如權利要求1所述的方法，其特征在于：該最佳化功率校正動作是計算出一β值用以補償該最佳刻錄功率。
3.如權利要求1所述的方法，其特征在于：該最佳化功率校正動作是計算出一β值用以修正寫入策略。
4.一種可錄式光盤刻錄品質的動態檢測方法，，其特征在于包括下列步驟：
在一可錄式光盤的一數據區中設定一檢測位置；
利用一最佳刻錄功率在該數據區進行一數據刻錄動作；
當該可錄式光盤該數據區上的刻錄位置大于或等于該檢測位置時，暫停該數據刻錄動作；
讀取先前記錄在該可錄式光盤軌道上的一刻錄數據并進行一最佳化功率校正動作后更新該最佳刻錄功率并計算出一數據讀取錯誤率；
當該數據讀取錯誤率遠大一臨限值時，降低刻錄速度；
根據該數據讀取錯誤率更新該檢測位置，其中當該數據讀取錯誤率小于該臨限值時，更新的該檢測位置被設定為大于一基本距離，當該數據讀取錯誤率等于或大于該臨限值時，更新的該檢測位置被設定為小于該基本距離；以及
利用更新后的該最佳刻錄功率再次在該數據區啟動該數據刻錄動作，直到該刻錄位置大于或等于更新后的該檢測位置。
5.如權利要求4所述的方法，其特征在于：該最佳化功率校正動作是計算出一β值用以補償該最佳刻錄功率。
6.如權利要求4所述的方法，其特征在于：該最佳化功率校正動作是計算出一β值用以修正寫入策略。
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