[發明專利]顯示板檢查裝置和方法無效
| 申請號: | 200710079111.6 | 申請日: | 2007-02-13 |
| 公開(公告)號: | CN101118713A | 公開(公告)日: | 2008-02-06 |
| 發明(設計)人: | 蜂須賀生治 | 申請(專利權)人: | 富士通株式會社 |
| 主分類號: | G09F9/00 | 分類號: | G09F9/00;G01M11/00;G02F1/13 |
| 代理公司: | 北京三友知識產權代理有限公司 | 代理人: | 李輝 |
| 地址: | 日本神奈*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 顯示 檢查 裝置 方法 | ||
1.一種顯示板檢查裝置(10,40,50),該顯示板檢查裝置(10,40,50)對由多個像素(11)組成的顯示板(12)進行檢查,所述顯示板檢查裝置(10,40,50)包括:
檢測單元(13,14),其檢測所述多個像素(11)中的每一個是否是有缺陷像素;和
保持單元(15),其保持所述檢測單元(13,14)的檢測結果。
2.根據權利要求1所述的顯示板檢查裝置,其中,所述檢測單元(13,14)包括:光檢測單元(13),其產生與來自所述像素(11)的輸出光(24)對應的檢測狀態;和判斷單元(14),其基于所述檢測狀態來判斷所述像素(11)是否是有缺陷像素,并且當該判斷表示所述像素(11)是有缺陷像素時輸出檢測信號(d1),并且
所述保持單元(15)保持從所述判斷單元(14)輸出的檢測信號(d1)的狀態。
3.根據權利要求2所述的顯示板檢查裝置,其中,所述光檢測單元(13)包括根據所述多個像素(11)的排列方向而設置的多個光檢測元件(25),
所述判斷單元(14)包括多個有缺陷像素判斷單元(26),所述多個有缺陷像素判斷單元(26)各自按對應關系與所述多個光檢測元件(25)中的相應光檢測元件(25)相連接,并且
所述保持單元(15)包括多個鎖存單元(28),所述多個鎖存單元(28)各自按對應關系與所述多個光檢測元件(25)中的相應光檢測元件(25)相連接。
4.根據權利要求3所述的顯示板檢查裝置,其中,所述多個光檢測元件(25)是沿著具有矩形結構的所述顯示板(12)的一條邊設置的。
5.根據權利要求3所述的顯示板檢查裝置,其中,所述多個光檢測元件(25)是沿著具有矩形結構的所述顯示板(12)的對角線設置的。
6.根據權利要求2到5中的任一項所述的顯示板檢查裝置,該顯示板檢查裝置進一步包括通知單元(16),所述通知單元(16)對從所述判斷單元(14)輸出了檢測信號(d1)進行通知。
7.根據權利要求1到5中的任一項所述的顯示板檢查裝置,該顯示板檢查裝置進一步包括用于改變所述顯示板(12)的工作環境的工作環境改變單元(17)。
8.根據權利要求6所述的顯示板檢查裝置,該顯示板檢查裝置進一步包括用于改變所述顯示板(12)的工作環境的工作環境改變單元(17)。
9.根據權利要求7所述的顯示板檢查裝置,其中,所述工作環境改變單元(17)包括用于改變所述顯示板(12)的溫度環境的溫度環境改變單元。
10.根據權利要求7所述的顯示板檢查裝置,其中,所述工作環境改變單元(17)包括用于對所述顯示板(12)施加振動的振動施加單元。
11.一種顯示板檢查方法,該顯示板檢查方法檢查由多個像素(11)組成的顯示板(12),所述顯示板檢查方法包括以下步驟:
檢測步驟,其檢測所述多個像素(11)的每一個是否是有缺陷像素;和
保持步驟,其保持所述檢測步驟中的檢測結果。
12.根據權利要求11所述的顯示板檢查方法,其中,所述檢測步驟包括:光檢測步驟,其產生與來自所述像素(11)的輸出光(24)對應的檢測狀態;和判斷步驟,其基于所述檢測狀態來判斷所述像素(11)是否是有缺陷像素,并且當該判斷表示所述像素(11)是有缺陷像素時輸出檢測信號(d1),
在所述保持步驟中保持在所述判斷步驟中輸出的檢測信號(d1)的狀態。
13.根據權利要求12所述的顯示板檢查方法,其中,根據所述多個像素(11)的排列方向而多于一次地執行所述光檢測步驟,并且
與所述多于一次地執行的光檢測步驟中的每一次相關聯地執行所述判斷步驟和所述保持步驟。
14.根據權利要求13所述的顯示板檢查方法,其中,沿著具有矩形結構的所述顯示板(12)的一條邊執行所述光檢測步驟。
15.根據權利要求13所述的顯示板檢查方法,其中,沿著具有矩形結構的所述顯示板(12)的對角線執行所述光檢測步驟。
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