[發明專利]測量完整性的設備和方法有效
| 申請號： | 200710078884.2 | 申請日： | 2007-02-16 |
| 公開（公告）號： | CN101025762A | 公開（公告）日： | 2007-08-29 |
| 發明（設計）人： | 崔賢真;鄭勍任;鄭明俊 | 申請（專利權）人： | 三星電子株式會社 |
| 主分類號： | G06F17/30 | 分類號： | G06F17/30;G06F12/02;H04L9/28 |
| 代理公司： | 北京銘碩知識產權代理有限公司 | 代理人： | 韓明星;安宇宏 |
| 地址： | 韓國京畿*** | 國省代碼： | 韓國;KR |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 測量 完整性 設備 方法 | ||
【說明書】：
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