[發(fā)明專利]單時(shí)隙功率檢測(cè)的方法和裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 200710077529.3
• 申請(qǐng)日: 2007-11-30
• 公開（公告）號(hào): CN101222280A
• 公開（公告）日: 2008-07-16
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 戴小華
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 深圳國(guó)人通信有限公司
• 主分類號(hào): H04B17/00
• 分類號(hào): H04B17/00;H04Q7/34
• 代理公司: 廣州華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司
• 代理人: 鄭小粵

1.一種單時(shí)隙功率檢測(cè)的方法，其特征在于，該方法包括以下步驟：

A、設(shè)置基站與直放站之間的時(shí)延，同步控制模塊根據(jù)所述時(shí)延對(duì)下行鏈路、下行鏈路的時(shí)間差值進(jìn)行補(bǔ)償；

B、獲取TD-SCDMA射頻功率信號(hào)并轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)，送給同步控制模塊；查找下行導(dǎo)頻信號(hào)、第一切換點(diǎn)、第二切換點(diǎn)，查找下行鏈路、上行鏈路每個(gè)時(shí)隙的切換點(diǎn)；

C、查找每個(gè)時(shí)隙的訓(xùn)練序列碼的位置，根據(jù)所述位置從TD-SCDMA射頻功率信號(hào)中讀取各個(gè)時(shí)隙的功率值。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的單時(shí)隙功率檢測(cè)的方法，其特征在于，所述步驟A中獲取信號(hào)具體包括：

通過ADC8314獲得所述射頻功率信號(hào)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的單時(shí)隙功率檢測(cè)的方法，其特征在于，所述步驟B中查找過程具體包括：

所述同步控制模塊依據(jù)時(shí)間窗原則來查找下行導(dǎo)頻信號(hào)、第一切換點(diǎn)、第二切換點(diǎn)，查找下行鏈路、上行鏈路每個(gè)時(shí)隙的切換點(diǎn)。

4.根據(jù)權(quán)利要求1～3中任一項(xiàng)所述的單時(shí)隙功率檢測(cè)的方法，其特征在于，所述步驟C之后還包括步驟：

D、所述同步控制模塊把各個(gè)時(shí)隙的功率值傳送給MCU電路，進(jìn)行格式轉(zhuǎn)換后，再由MCU電路送給終端工具模塊。

5.一種單時(shí)隙功率檢測(cè)的裝置，其特征在于，該裝置包括：

終端工具模塊，用于設(shè)置用戶自定義的基站與直放站之間的時(shí)延補(bǔ)償值并傳送到MCU；

采樣模塊，用于獲取TD-SCDMA射頻功率信號(hào)并轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)，送給同步控制模塊；

MCU，用于向同步控制模塊傳送所述時(shí)延補(bǔ)償值，對(duì)傳輸?shù)臄?shù)據(jù)進(jìn)行分析處理；

同步控制模塊，用于根據(jù)所述時(shí)延對(duì)下行鏈路、下行鏈路的時(shí)間差值進(jìn)行補(bǔ)償；查找下行導(dǎo)頻信號(hào)、第一切換點(diǎn)、第二切換點(diǎn)，查找下行鏈路、上行鏈路每個(gè)時(shí)隙的切換點(diǎn)；還用于查找每個(gè)時(shí)隙的訓(xùn)練序列碼的位置，根據(jù)所述位置從TD-SCDMA射頻功率信號(hào)中讀取各個(gè)時(shí)隙的功率值。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的單時(shí)隙功率檢測(cè)的裝置，其特征在于，所述采樣模塊獲取的TD-SCDMA射頻功率信號(hào)由芯片ADC8314提供。

7.根據(jù)權(quán)利要求5或6所述的單時(shí)隙功率檢測(cè)的裝置，其特征在于：

所述MCU還用于向終端工具模塊傳遞同步控制模塊讀取的各個(gè)時(shí)隙的功率值，并進(jìn)行格式轉(zhuǎn)換；

所述終端工具模塊還用于將接收MCU發(fā)送的功率值并進(jìn)行顯示，實(shí)現(xiàn)人機(jī)交互。