[發明專利]一種測試多徑衰落的方法、裝置和系統

無效

• 申請號: 200710076193.9
• 申請日: 2007-06-29
• 公開（公告）號: CN101079675A
• 公開（公告）日: 2007-11-28
• 發明（設計）人: 李成恩;段亞軍;尹成剛;秦國強;李健;崔巧云
• 申請（專利權）人: 中興通訊股份有限公司
• 主分類號: H04B17/00
• 分類號: H04B17/00;H04B1/707
• 代理公司: 深圳市君勝知識產權代理事務所
• 代理人: 王永文

1、一種測試多徑衰落的方法，其包括步驟：

A1、根據行業標準，選擇多徑衰落的測試模式；

A2、啟動綜合測試儀，依據所述測試模式，設置所述綜合測試儀的參數；

A3、依據所述測試模式確定各信道路徑的時延，設置各信道路徑的延時器；

A4、依據所述測試模式確定各信道路徑的衰減量，設置各信道路徑的衰減器；

A5、建立所述綜合測試儀與測試終端的通信；

A6、進行所述測試終端的多徑衰落性能測試。

2、根據權利要求1所述的方法，其特征在于，步驟A4包括單獨或組合設置固定衰減器、調節可調衰減器或電調衰減器的衰減量。

3、根據權利要求1所述的方法，其特征在于，步驟A3包括單獨或串聯設置延時線，用作延時器。

4、一種測試多徑衰落的裝置，其特征在于，其包括由延時器和用于調節信號幅度的衰減器串聯構成的信道路徑。

5、根據權利要求4所述的裝置，其特征在于，其包括至少兩條并聯的所述信道路徑。

6、根據權利要求4所述的裝置，其特征在于，所述延時器是單獨或串聯的延時線。

7、根據權利要求4所述的裝置，其特征在于，所述衰減器包括固定衰減器、可調衰減器或電調衰減器。

8、一種測試多徑衰落的系統，包括綜合測試儀和雙工機，其特征在于，還包括至少兩條并聯的信道路徑，所述信道路徑由延時器和用于調節信號幅度的衰減器串聯構成。

所述綜合測試儀通過所述信道路徑發送測試多徑衰落的信號到所述雙工機，接收從測試終端返回到所述雙工機的反饋信號。

9、根據權利要求7所述的系統，其特征在于，所述延時器是單獨或串聯的延時線。

10、根據權利要求7所述的系統，其特征在于，所述衰減器包括固定衰減器、可調衰減器或電調衰減器。