[發明專利]一種ITO測試板和測試方法

有效

• 申請號: 200710075821.1
• 申請日: 2007-07-05
• 公開（公告）號: CN101339302A
• 公開（公告）日: 2009-01-07
• 發明（設計）人: 鄭楓;石道才;周佩先
• 申請（專利權）人: 比亞迪股份有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13;G01R31/28
• 代理公司: 深圳創友專利商標代理有限公司
• 代理人: 陳俊斌

1.一種ITO測試板，其特征是：包括玻璃基板、ITO導電層、絕緣層，該ITO導電層涂覆于該玻璃基板上，且該絕緣層涂覆于該ITO導電層的部分或全部表面，其中所述ITO導電層包括若干分區，每一分區包括二條線寬一致、線距一致、走線平行的ITO平行電極。

2.如權利要求1所述的ITO測試板，其特征是：所述ITO導電層包括若干分區；每二個分區為一組，在同組分區內，所述各ITO平行電極的線寬一致、線距一致；且該絕緣層僅涂覆于同組分區的其中之一分區之上；不同組分區之間，所述各ITO平行電極的線寬、線距之一或之二設置為不同值。

3.如權利要求1或2所述的ITO測試板，其特征是：所述ITO導電層包括若干分區；每一分區分別仿真STN或CSTN液晶顯示器的ITO電極走線。

4.如權利要求1所述的ITO測試板，其特征是：所述ITO導電層包括若干分區；所述分區被整體劃分為第一組和第二組，所述第一組中的各分區與所述第二組中的各分區一一對應，對應分區結構相同、各ITO平行電極的線寬線距分別相同；所述絕緣層僅涂覆于其中之一組分區之上；同一分區的各ITO平行電極的線寬線距分別相同。

5.一種ITO電極腐蝕的測試方法，包括如下步驟：將仿真ITO電極走線的ITO測試板置于預定溫濕度的環境中，對ITO電極通以一定時間的工作電壓，對ITO電極的腐蝕情況進行評估，其中

所述ITO測試板采用同一玻璃基板對稱設置ITO導電層，所述ITO導電層包括若干分區，每一分區包括二條線寬一致、線距一致、走線平行的ITO平行電極。

6.如權利要求5所述的測試方法，其特征是：所述工作電壓為仿真ITO電極在實際工作過程中所受的有效電壓。

7.如權利要求5或6所述的測試方法，其特征是：所述ITO測試板同時仿真STN或CSTN液晶顯示器的ITO電極走線；或分別仿真STN或CSTN液晶顯示器的ITO電極走線。

8.如權利要求5或6所述的測試方法，其特征是：所述ITO測試板采用同一玻璃基板分區仿真STN和CSTN液晶顯示器的ITO電極，各分區ITO電極的走線間距、線寬、絕緣層覆蓋、絕緣層覆蓋材料中的一個或一個以上因素不相同。

9.如權利要求5或6所述的測試方法，其特征是：所述ITO測試板采用同一玻璃基板對稱設置ITO導電層，該ITO導電層包括分成第一組和第二組的若干分區，所述第一組中的各分區與所述第二組中的各分區一一對應，對應分區的ITO走線結構相同；每組內各分區的走線線寬或線距之一或之二設置為不同值；其中之一組涂覆絕緣層。

10.如權利要求5或6所述的測試方法，其特征是：對涂覆相同的絕緣層、相同線距、相同線寬的ITO電極，按正交設計的不同電壓、溫度、濕度組合成不同的高溫高濕環境，對各組ITO電極通電相同時間，以評估不同電壓、溫度、濕度對ITO腐蝕的影響。

11.如權利要求5或6所述的測試方法，其特征是：對ITO電極走線線距相同、線寬相同的ITO測試板，涂覆不同之絕緣層，以評估不同之絕緣層材料的防腐性能。