[發(fā)明專利]閃存檢測分類方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200710075784.4
• 申請日: 2007-08-17
• 公開（公告）號: CN101369463A
• 公開（公告）日: 2009-02-18
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 范勤
• 申請（專利權(quán)）人: 芯邦科技（深圳）有限公司
• 主分類號: G11C29/00
• 分類號: G11C29/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及閃存存儲領(lǐng)域，尤指一種閃存檢測分類方法，其可將閃存 精確分類，充分利用閃存容量。

背景技術(shù)

閃存：閃存是Flash?Ram的音譯。閃存作為一種非揮發(fā)性(簡單說就 是在不加電的情況下數(shù)據(jù)也不會丟失，區(qū)別于目前常用的計算機(jī)內(nèi)存)的 半導(dǎo)體存儲芯片，具有體積小、功耗低、不易受物理破壞的優(yōu)點，是移動 數(shù)碼產(chǎn)品的理想存儲介質(zhì)，目前，其普遍應(yīng)用在數(shù)碼電視、數(shù)碼便攜式攝 像機(jī)、移動電話、數(shù)碼相機(jī)、掌上電腦(PDA)、游戲機(jī)、MP3播放器等設(shè) 備中，閃存的種類大致分為：儲存容量大的數(shù)據(jù)存儲型(NAND)和處理 速度快的代碼存儲型(NOR)兩種。

閃存的結(jié)構(gòu)特點，其是由很多個塊(block)組成，每個塊(block)包 括64頁(page)，每一個頁(page)包括4個扇區(qū)(sector)。

閃存的特定不是很穩(wěn)定，其一般來說，都會有壞塊，所以，要在使用 前，將壞塊數(shù)找出來，屏蔽壞塊數(shù)，防止寫文件時寫到壞塊區(qū)，造成文件 丟失。

另外，為了充分利用不同容量的閃存，現(xiàn)有的辦法是根據(jù)閃存的壞塊 數(shù)來為閃存分類，將閃存分為不同的級別，以將不同級別的閃存作不同的 用處。

如圖1所示，現(xiàn)有的檢測分類方法，主要包括以下步驟：

步驟101：將閃存設(shè)于控制芯片廠家生產(chǎn)的測試架上；

步驟102：將測試架連接到測試單元上，一個測試單元可連接多個測 試架；

步驟103：通過安裝在測試單元中的量產(chǎn)模塊，可以掃描出閃存的好 壞塊；

步驟104：根據(jù)掃描的結(jié)果，將閃存分為不同的等級。

其中，安裝在測試單元中的量產(chǎn)模塊，是用來提供給卡生產(chǎn)廠商批量 生產(chǎn)存儲卡的，功能包括：卡掃描、格式化和生產(chǎn)選項配置。在進(jìn)行每種 卡產(chǎn)品前，首先要配置好參數(shù)，然后量產(chǎn)模塊根據(jù)參數(shù)掃描、格式化卡， 并將需要的文件寫入到卡，完成生產(chǎn)。

利用上述的分類方法，是可以根據(jù)掃描結(jié)果，將閃存分為不同的級別， 但是，由于閃存本身的特性所限，其本質(zhì)是不穩(wěn)定的，即本次掃描的壞塊， 下次再掃描不一定是壞塊，而本次掃描的好塊，下次再掃描不一定還是好 塊，因此，這種靜態(tài)分類方法較為粗略，不精確。

另外，根據(jù)掃描結(jié)果，將閃存分為不同的等級，不同等級的閃存用于 不同地方。

即使這樣，由于閃存的不穩(wěn)定性，掃描時的好塊，如果在使用過程中 發(fā)現(xiàn)是壞塊的話，將會影響閃存的使用。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的主要目的是提供了一種閃存檢測分類方法，其可克服現(xiàn)有檢 測方法的缺陷，對閃存進(jìn)行精確分類。

本發(fā)明的次要目的在于提供一種閃存的動態(tài)補(bǔ)償方法，其可對存在壞 塊的閃存進(jìn)行動態(tài)補(bǔ)償，確保數(shù)據(jù)安全。

為了實現(xiàn)上述發(fā)明的目的，本發(fā)明所采用的技術(shù)方案為：

一種閃存檢測分類方法，其包括

按照閃存類別抽出部分閃存樣品；

用讀、寫操作模式掃描閃存樣品；

根據(jù)掃描結(jié)果，找出閃存特性；

將特性相同的閃存分別設(shè)于控制芯片廠家生產(chǎn)的測試架上；

通過量產(chǎn)工具，根據(jù)閃存特性來掃描閃存的好壞塊情況；

根據(jù)掃描的結(jié)果，將閃存分為不同的等級。

所述的閃存檢測分類方法，其在掃描閃存中，找出的閃存特性為，奇 數(shù)塊的壞塊比例較偶數(shù)塊高；則在通過量產(chǎn)工具對閃存進(jìn)行再次掃描時， 其對偶數(shù)塊掃描一次，對奇數(shù)塊進(jìn)行多次掃描。

所述的閃存檢測分類方法，其在掃描閃存中，其找出的閃存特性為， 偶數(shù)塊的壞塊比例較奇數(shù)塊高；則在通過量產(chǎn)工具對閃存進(jìn)行再次掃描時， 對奇數(shù)塊掃描一次，對偶數(shù)塊進(jìn)行多次掃描。

所述的閃存檢測分類方法，其在掃描閃存中，找出的閃存特性為，其 閃存按順序?qū)懭胧钦_的，但隨機(jī)寫入會出錯。

所述的閃存檢測分類方法，其還包括以下步驟：

將閃存中預(yù)留一組好塊作為替換塊；

通過檢測，若發(fā)現(xiàn)有壞塊，則將該組好塊中的一塊把壞塊替換。

所述的閃存檢測分類方法，其還包括以下步驟：將壞塊放在該組好塊 后面。