[發明專利]水下C波段紫外線強度探測儀無效
| 申請號: | 200710074941.X | 申請日: | 2007-06-13 |
| 公開(公告)號: | CN101324464A | 公開(公告)日: | 2008-12-17 |
| 發明(設計)人: | 李朝林 | 申請(專利權)人: | 李朝林 |
| 主分類號: | G01J1/42 | 分類號: | G01J1/42;G01J1/46 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 水下 波段 紫外線 強度 探測儀 | ||
所屬技術領域
本發明公開一種紫外線強度探測儀,特別是一種能應用于水下,檢測水下C 波段紫外線強度的探測儀。
背景技術
在城市供水和水處理系統中,消毒作為最基本的水處理單元,是保證用戶安 全用水必不可少的措施之一,已成為防止疾病傳播、擴散的重要防線。“十一五” 計劃明確提出以飲用水安全作為重點,加強水污染防治的戰略方針。但自20世 紀70年代發現氯消毒產生“三致”物質,并且不能有效殺滅隱孢子蟲及其孢囊, 人們開始重新審視消毒問題。現今,人們亟需研制開發一種安全、高效的氯替 代消毒技術,而紫外消毒因其不產生消毒副產物,成為了當今研究與應用的重 點。但目前的消毒系統存在下列問題:(1)紫外線消毒效果與UV-C的劑量成 正比關系,劑量太低對微生物的消毒效果較差,且還有修復現象(光修復和暗修復), 但是如果紫外線的劑量太大就會造成浪費。因此,合理控制紫外線的劑量十分重 要。(2)傳統的用化學、生物學等方法確定實際應用系統的紫外劑量的方法監 測頻次低,采樣誤差大,監測數據不準確,用于推斷和選擇系統結構上有局限 性,只能用于系統結構設計后的驗定。(3)傳統方法不能及時反映消毒系統運 行狀況,存在清洗或更換不及時會影響出水水質,更換燈和清洗次數過于頻繁 又造成極大能源浪費等問題。(4)傳統測量方法無法及時預測和處理異常情況。
發明內容
針對上述提到的現有技術中供水和水處理系統水質難以檢測的缺點,本發 明提供一種用于水下檢測C波段紫外線強度的探測儀,可通過C波段紫外線專 用光電二極管檢測水下C波段紫外線強度來確定利用C波段紫外線對水的消毒 情況。
本發明解決其技術問題采用的技術手段為:一種水下C波段紫外線強度探 測儀,該探測儀包括探測頭、外殼、放大電路、微機處理系統,探測頭設置在 外殼內,外殼采用用不銹鋼材料,外殼的連接部位以及探測頭導線出口處都設 有O形防水圈或硅膠,探測頭內部灌裝有硅膠,外殼上開有進光孔,進光孔上 設有濾光片,探測頭安裝在進光孔處;探測頭采用對C波段紫外線敏感的專用 光電二極管;放大電路由運算放大器配合外圍電容、電阻組成,探測頭輸出與 放大電路的輸入端連接,放大電路的輸出端與微機處理系統連接,放大電路輸 出信號經A/D轉換后送入微機處理系統,經計量定標后,就可以換算成相應的 紫外輻射強度值并可以進行顯示。
本發明解決其技術問題采用的技術手段進一步還包括:
所述的放大電路為在運算放大器的同向輸入端電連接有串聯的電阻R1、電 阻R2的公共端,電阻R1另一端接+5V電源,電阻R2另一端接地,紫外C專 用光電二極管正極接地,負極與運算放大器反向輸入端連接,運算放大器的反 向輸入端與輸出端之間并聯連接有電容C和電阻R。
所述的濾光片采用僅可通過C波段紫外線的紫外干涉窄帶濾光片。
所述的紫外C專用光電二極管采用寬帶隙半導體AlGaN材料制成的光電二 極管。
所述的微機處理系統數據輸出端上連接有顯示裝置。
本發明的有益效果是:本發明可直接測量水下紫外輻射強度,可以在殺菌 過程中對紫外輻照強度和紫外穿透率進行實時測量,能及時準確將紫外燈老化 和石英管套外壁結垢狀況反饋給控制中心并通過預先編制的程序控制全自動清 洗裝置對紫外燈進行全自動清洗,實現了對石英套管的自動清洗、水處理流量 的自動控制和紫外燈的輻射強度的持續全自動監控,并可與監控系統聯用能及 時給出紫外強度信號,能自動調節水處理流量和反應時間以及紫外燈放射量從 而保證殺菌效果。同時本發明還可以及時探測消毒系統中發生的異常情況并利 用報警系統發出警報,確保工作人員能及時處理該異常情況,減小了勞動力成 本,使清潔過程和殺菌過程同步進行,節省了能源,保證了出水水質。
下面將結合附圖和具體實施方式對本發明作進一步的說明。
附圖說明
圖1為本發明結構示意圖。
圖2為圖1的剖視結構示意圖。
圖3為本發明的電路原理圖。
圖中,1-外殼,2-濾光片,3-導線,4-防水圈,5-探測頭,6-硅膠。
具體實施方式
本實施例為本發明優選實施方式,其它凡其原理和基本結構與本實施例相 同或近似的,均在本發明保護范圍之內。
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