[發明專利]一種測量處理方法及裝置

有效

• 申請號: 200710074081.X
• 申請日: 2007-04-17
• 公開（公告）號: CN101291517A
• 公開（公告）日: 2008-10-22
• 發明（設計）人: 尹麗燕
• 申請（專利權）人: 華為技術有限公司
• 主分類號: H04Q7/38
• 分類號: H04Q7/38
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種測量處理方法，其特征在于，該方法包括以下步驟：

對測量所得的測量采樣數據通過內部濾波處理得到測量量；

對所得的測量量執行時頻的歸一化濾波處理，得到測量結果；

對得到的測量結果進行評估；

所述對測量量執行時頻的歸一化濾波處理為：將在k個子載波上的連續 n個測量量分別根據其所在的頻域進行歸一化處理，將得到的結果與前一次 處理所得的測量結果進行濾波處理，且所述歸一化濾波處理所得的第一個測 量結果對應的前一次處理所得的測量結果設定為內部濾波處理所得的第一 個測量量；或者，

所述對測量量執行時頻的歸一化濾波處理為：將在k個子載波上的連續 n個測量量與前一次處理所得的測量結果進行濾波處理，且所述歸一化濾波 處理所得的第一個測量結果對應的前一次處理所得的測量結果設定為內部 濾波處理所得的第一個測量量；或者，

所述對測量量執行時頻的歸一化濾波處理為：將當前子載波上的測量量 根據其所在的頻域對選定的歸一化載頻進行歸一化處理，并將所得的結果與 前一次處理所得的測量結果進行濾波處理，且所述歸一化濾波處理所得的第 一個測量結果對應的前一次處理所得的測量結果設定為內部濾波處理所得 的第一個測量量。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述對測量采樣數據通 過內部濾波處理得到測量量為：將當前的測量采樣數據與前一次處理所得的 測量量進行濾波處理，得到當前的測量量，且內部濾波處理所得的第一個測 量量對應的前一次處理所得的測量量設定為第一個測量采樣數據的對應值。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述對測量采樣數據通 過內部濾波處理得到測量量為：將同時或同一周期內的k個子載波上的連續 n個測量采樣數據分別根據其所在的頻域進行歸一化處理，將得到的結果與 前一次處理所得的測量量進行濾波處理，得到當前的測量量，且內部濾波處 理所得的第一個測量量對應的前一次處理所得的測量量設定為第一個測量 采樣數據的對應值。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述對測量采樣數據通 過內部濾波處理得到測量量為：將同時或同一周期內的k個子載波上的連續 n個測量采樣數據與前一次處理所得的測量量進行濾波處理，得到當前的測 量量，且內部濾波處理所得的第一個測量量對應的前一次處理所得的測量量 設定為第一個測量采樣數據的對應值。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述對測量采樣數據通 過內部濾波處理得到測量量為：將當前子載波上的測量采樣數據根據其所在 的頻域對選定的歸一化載頻進行歸一化處理，并將所得的結果與前一次處理 所得的測量量進行濾波處理，得到當前的測量量，且內部濾波處理所得的第 一個測量量對應的前一次處理所得的測量量設定為第一個測量采樣數據的 對應值。

6.根據權利要求2至5中任意一項所述的方法，其特征在于，所述內 部濾波處理或歸一化濾波處理為：滑動濾波處理，或者非線性的濾波處理。

7.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述對測量采樣數據通 過內部濾波處理得到測量量為：將同時或同一周期內的k個子載波上的連續 n個測量采樣數據根據其所在的頻域進行歸一化處理，得到當前的測量量。

8.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述對測量采樣數據通 過內部濾波處理得到測量量為：對所有的測量采樣數據進行平均算法處理， 得到當前的測量量。