[發明專利]集成電路開路/短路的測試連接方法及裝置

有效

• 申請號: 200710073233.4
• 申請日: 2007-02-09
• 公開（公告）號: CN101231322A
• 公開（公告）日: 2008-07-30
• 發明（設計）人: 段超毅;王國華;陶杉
• 申請（專利權）人: 段超毅;王國華;陶杉
• 主分類號: G01R31/02
• 分類號: G01R31/02;G01R31/28
• 代理公司: 深圳市睿智專利事務所
• 代理人: 陳鴻蔭

1.一種集成電路開路/短路的測試連接方法，其特征在于：包括以下步驟，

①設計一塊雙面印刷電路板(1)，該印刷電路板(1)焊盤的上下兩面各相應的導電點均分別互相導通，各導電點之間的腳距規格與被測集成電路(8)的各導電點之間的腳距規格相同；

②使所述印刷電路板(1)上面焊盤的各導電點與被測集成電路(8)的各導電點分別電接觸；

③將所述印刷電路板(1)下面焊盤的各導電點分別借助導線(2)與插座/插頭(3)電連接；

④將所述插座/插頭(3)與所述開路/短路測試機(4)接插。

2.根據權利要求1所述的集成電路開路/短路的測試連接方法，其特征在于：步驟②中，所述印刷電路板(1)上面焊盤的各導電點與被測集成電路(8)的各導電點之間借助測試座(5)內的探針(51)電接觸。

3.根據權利要求1所述的集成電路開路/短路的測試連接方法，其特征在于：步驟③中，所述印刷電路板(1)下面焊盤的各導電點直接與各導線(2)焊接。

4.一種集成電路開路/短路的測試連接裝置，包括測試座(5)和印刷電路板(1)，其特征在于：

所述印刷電路板(1)為一層雙面，該印刷電路板(1)焊盤的上下兩面各導電點互相導通，各導電點之間的腳距規格與被測集成電路(8)的各導電點之間的腳距規格相同；所述印刷電路板(1)上面焊盤的各導電點借助測試座(5)內的探針(51)與被測集成電路(8)的各導電點分別電接觸，下面焊盤的各導電點分別借助導線(2)與插座/插頭(3)電連接；該插座/插頭(3)與開路/短路測試機(4)的插頭/插座(3)相適配。

5.一種集成電路開路/短路的測試連接方法，其特征在于：包括以下步驟，

①設計一塊雙面絕緣板(6)，該絕緣板(6)上加工有與被測集成電路(8)的各導電點之間腳距規格相同的通孔，各通孔內分別裝有導電端子(7)；

②使所述各導電端子(7)的上端與被測集成電路(8)的各導電點分別電接觸；

③將所述各導電端子(7)的下端分別借助導線(2)與插座/插頭(3)電連接；

④將所述插座/插頭(3)與所述開路/短路測試機(4)接插。

6.根據權利要求5所述的集成電路開路/短路的測試連接方法，其特征在于：步驟②中，所述各導電端子(7)的上端與被測集成電路(8)的各導電點之間借助測試座(5)內的探針(51)電接觸。

7.根據權利要求5所述的集成電路開路/短路的測試連接方法，其特征在于：步驟③中，所述各導電端子(7)的下端直接與各導線(2)焊接。

8.一種集成電路開路/短路的測試連接裝置，包括測試座(5)，其特征在于：

還包括絕緣板(6)，所述絕緣板(6)上有與被測集成電路(8)的各導電點之間的腳距規格相同的通孔，各通孔內裝有導電端子(7)；所述導電端子(7)的上端通過測試座(5)內的探針(51)與被測集成電路(8)的各導電點分別電接觸，導電端子(7)下端分別借助導線(2)與插座/插頭(3)電連接；該插座/插頭(3)與開路/短路測試機(4)的插頭/插座(3)相適配。