[發明專利]光學系統中的光學軸與機械軸之間夾角的精確測量方法

有效

• 申請號: 200710072380.X
• 申請日: 2007-06-22
• 公開（公告）號: CN101078615A
• 公開（公告）日: 2007-11-28
• 發明（設計）人: 馬晶;譚立英;劉劍峰;韓琦琦;于思源
• 申請（專利權）人: 哈爾濱工業大學
• 主分類號: G01B11/26
• 分類號: G01B11/26
• 代理公司: 哈爾濱市松花江專利商標事務所
• 代理人: 朱永林

1.光學系統中的光學軸與機械軸之間夾角的精確測量方法，其特征在于它的方法步驟為：

第一步驟：干涉儀(1)發射的激光光束通過被測光學系統(2)后入射到高精度平面鏡(3)中，激光光束由高精度平面鏡(3)反射后通過被測光學系統(2)入射干涉儀(1)中；調整高精度平面鏡(3)方位角、俯仰角，使干涉儀(1)的條紋左右、上下對稱，即高精度平面鏡(3)的光軸與被測光學系統(2)的光軸相重合；

第二步驟：將自準直儀(4)設置在高精度平面鏡(3)的前方，自準直儀(4)向高精度平面鏡(3)發射激光光束，激光光束經高精度平面鏡(3)反射后入射自準直儀(4)中，自準直儀(4)根據入射光點位置計算其光軸與高精度平面鏡(3)光軸的夾角α值，即自準直儀(4)光軸與被測光學系統(2)的光軸夾角α值；

第三步驟：在被測光學系統(2)的機械支撐的機械基準面上粘接第二高精度平面鏡(5)，即第二高精度平面鏡(5)的光軸與被測光學系統(2)的機械軸平行，自準直儀(4)以步驟二中的位置向第二高精度平面鏡(5)發射激光光束，激光光束經第二高精度平面鏡(5)反射后入射自準直儀(4)中，自準直儀(4)根據入射光點位置計算其光軸與第二高精度平面鏡(5)光軸的夾角β值，即自準直儀(4)的光軸與被測光學系統(2)的機械軸夾角β值；

第四步驟：將步驟二中的夾角α值、步驟三中的夾角β值帶入公式Δ＝β-α中，即得出被測光學系統(2)的光軸與機械軸之間夾角Δ值。