[發明專利]適用于多掃描鏈設計芯核的SOC測試數據的壓縮方法無效
| 申請號： | 200710072150.3 | 申請日： | 2007-04-29 |
| 公開（公告）號： | CN101042714A | 公開（公告）日： | 2007-09-26 |
| 發明（設計）人： | 彭喜元;俞洋;彭宇;孫寧;趙光權 | 申請（專利權）人： | 哈爾濱工業大學 |
| 主分類號： | G06F17/50 | 分類號： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 哈爾濱市松花江專利商標事務所 | 代理人： | 朱永林 |
| 地址： | 150001黑龍江*** | 國省代碼： | 黑龍江;23 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 適用于 掃描 設計 soc 測試數據 壓縮 方法 | ||
【權利要求書】：
下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于哈爾濱工業大學，未經哈爾濱工業大學許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/200710072150.3/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇：光電倍增管和輻射探測器
- 下一篇：光纖和傳輸系統以及波分復用傳輸系統
