[發明專利]一種高溫連續測量方法及裝置

有效

• 申請號: 200710070281.8
• 申請日: 2007-08-13
• 公開（公告）號: CN101118184A
• 公開（公告）日: 2008-02-06
• 發明（設計）人: 王健;張艷輝
• 申請（專利權）人: 聚光科技（杭州）有限公司
• 主分類號: G01J5/28
• 分類號: G01J5/28;G01J5/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1、一種高溫連續測量方法，包括步驟：

提供一測溫管，所述測溫管一端封閉、一端開口，內部設有第一氣體通道；在所述測溫管本體內設有貫通其內部并連通所述第一氣體通道的第二氣體通道；

將所述測溫管的開口端與測溫儀相連接；吹掃氣源提供的吹掃氣體在所述第一氣體通道、第二氣體通道內正向或逆向流動，并排出所述測溫管；將所述測溫管的封閉端插入被測高溫環境中，感知被測高溫并發出光輻射；所述吹掃氣體在所述第一氣體通道內流動過程中吹掃了所述測溫管內的測量光路；

通過所述測溫儀對插入被測高溫環境中的測溫管的端部發出的光輻射進行分析，從而得到被測高溫環境的溫度。

2、根據權利要求1所述的方法，其特征在于：所述第一氣體通道和第二氣體通道的連接處到所述測溫管的底端的距離小于或等于所述測溫管長度的一半。

3、根據權利要求1或2所述的方法，其特征在于：所述吹掃氣體是無水、無油、無塵、不吸收所述光輻射中測量波段內光的氣體。

4、根據權利要求3所述的方法，其特征在于：所述吹掃氣體是惰性氣體。

5、一種高溫連續測量裝置，包括測溫管、測溫儀，所述測溫管一端封閉、一端開口，所述測溫儀包括光學探頭和信號分析儀；其特征在于：、所述測量裝置還包括由吹掃氣源、第一氣體通道、第二氣體通道組成的吹掃裝置；所述第一氣體通道設在所述測溫管內，所述第二氣體通道設在所述測溫管的本體內并貫通其內部，并與所述第一氣體通道連通。

6、根據權利要求5所述的測量裝置，其特征在于：所述第一氣體通道和第二氣體通道的連接處到所述測溫管的底端的距離小于或等于所述測溫管長度的一半。

7、根據權利要求5或6所述的測量裝置，其特征在于：所述吹掃氣體是無水、無油、無塵、不吸收所述光輻射中測量波段內光的氣體。

8、根據權利要求7所述的測量裝置，其特征在于：所述吹掃氣體是惰性氣體。