[發明專利]一種探測入射激光方向的方法及信號探測裝置

無效

• 申請號: 200710069982.X
• 申請日: 2007-07-11
• 公開（公告）號: CN101086527A
• 公開（公告）日: 2007-12-12
• 發明（設計）人: 項震
• 申請（專利權）人: 項震
• 主分類號: G01S3/783
• 分類號: G01S3/783
• 代理公司: 杭州豐禾專利事務所有限公司
• 代理人: 王曉峰

1.一種探測入射激光方向的方法，其特征在于通過成像透鏡匯聚入射激光，并通過第一半透半反鏡(O1)和第二半透半反鏡(O2)反射，沿z方向和x方向分別匯聚在第一可變密度濾光片(F1)和第二可變密度濾光片(F2)上，光線透過第一可變密度濾光片(F1)和第二可變密度濾光片(F2)后，落在第一探測器(P1)和第二探測器(P2)上，分別測定對應的2個信號輸出S1和S2；再測定透過第二半透半反鏡(O2)后的入射光線在第三探測器(P3)上的引起的信號輸出S3；然后通過以下公式可以求出T(X)和T(Z)的取值，而T(X)和T(Z)的值和位置坐標X、Z是線性關系，可以得到X、Z坐標的取值，并計算得到對應的空間入射角度：

S1＝S·R1·T(Z)·M1

S2＝S·T1·R2·T(X)·M2

S3＝S·T1·T2·M3

E13=S1/S3=S·R1·T(Z)·M1S·T1·T2·M3=R1·T(Z)·M1T1·T2·M3]]>

E23=S2/S3=S·T1·R2·T(X)·M2S·T1·T2·M3=T1·R2·T(X)·M2T1·T2·M3]]>

T(Z)=E13·T1·T2·M3R1·M1]]>

T(X)=E13·T1·T2·M3T1·R2·M2]]>

其中：第一半透半反鏡(O1)的透過率為T1，反射率為R1；第二半透半反鏡(O2)的透過率為T2，反射率為R2；入射信號的大小為S，第一探測器(P1)、第二探測器(P2)和第三探測器(P3)的靈敏度分別為M1、M2和M3；第一可變密度濾光片(F1)和第二可變密度濾光片(F2)的透過率為透過位置的函數，沿x和z方向的濾光片的透過率分別為x和z方向上位置的函數T(X)和T(Z)；E13和E23表征了輸出信號S1、S2分別和輸出信號S3相比的結果。