[發明專利]痕跡物證的偏角拍攝和快速矯正方法及矩形比例尺無效
| 申請號： | 200710066921.8 | 申請日： | 2007-01-26 |
| 公開（公告）號： | CN101029878A | 公開（公告）日： | 2007-09-05 |
| 發明（設計）人： | 韓鑫賢;謝賢能 | 申請（專利權）人： | 韓鑫賢;謝賢能 |
| 主分類號： | G01N21/84 | 分類號： | G01N21/84;G06T5/00 |
| 代理公司： | 杭州九洲專利事務所有限公司 | 代理人： | 唐迅 |
| 地址： | 310013浙江省杭*** | 國省代碼： | 浙江;33 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 痕跡 物證 偏角 拍攝 快速 矯正 方法 矩形 比例尺 | ||
【權利要求書】：
下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于韓鑫賢;謝賢能，未經韓鑫賢;謝賢能許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/200710066921.8/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇：被冷卻的集成電路
- 下一篇：防漏水分體承壓直接循環太陽能熱水器
