[發明專利]25種陽離子的系統定性分析方法

無效

• 申請號: 200710066100.4
• 申請日: 2007-08-09
• 公開（公告）號: CN101105486A
• 公開（公告）日: 2008-01-16
• 發明（設計）人: 蔡成翔
• 申請（專利權）人: 蔡成翔
• 主分類號: G01N31/00
• 分類號: G01N31/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.本發明涉及常見的25種陽離子的快速、系統定性分析方法，其特征在于：

(1)第I組陽離子僅包括Ag⁺、Hg₂²⁺；

(2)沉淀第II組前先鑒定As^III，以減少分離操作次數，避免重復加入試劑；

(3)為避免第II組陽離子中溶解度最大的CdS沉淀的溶解損失，先用3mol/LHCl將Pb²⁺、Cd²⁺從本組硫化物沉淀中部分溶解出來，再加入熱的濃HCl將Bi³⁺、Cu²⁺、Hg²⁺、Sn^IV、Sb^III等離子的硫化物全部溶解，然后即進行分別鑒定；

(4)第III組陽離子沉淀用6mol·L^-1HNO₃溶解后即進行各離子的分別鑒定，但將Cr³⁺、Zn²⁺、Al³⁺的鑒定試液統一用NaOH+H₂O₂進行預處理以除去干擾；

(5)第IV組陽離子試液經灼燒后用濃醋酸溶解，然后即進行分別鑒定；

(6)在第II～IV組陽離子的分離和鑒定中添加表面活性劑CTAB；

(7)減少了試劑數量，并刪減了加熱、離心分離和沉淀洗滌等較為煩瑣、費時或重復次數過多的操作，而萃取、掩蔽、氣化、顯微結晶、紙上分離等方便實用的操作則被保留下來，使每組陽離子的分析都可控制在2.5小時內完成；

(8)本法各步驟均強調對“反應時間”的控制，盡可能省去“不溶物的洗滌操作”，選用“簡便的消除干擾方法”，合理利用“不完全的分離反應”、合理使用“特效試劑”和“無毒、低毒試劑”；

本發明方法要點如下：

(1)在系統分析之前，取待測混合液1～3滴，分別對NH₄⁺、Fe³⁺、Fe²⁺等離子進行分別鑒定；

(2)加入組試劑將待測離子分為4組；

(3)對I、IV組直接進行分別鑒定，對II、III組進行簡單分離后進行分別鑒定。