[發明專利]一種校正透鏡成像不均一性、提取透鏡參數的方法及裝置

有效

• 申請號: 200710065174.6
• 申請日: 2007-04-05
• 公開（公告）號: CN101051117A
• 公開（公告）日: 2007-10-10
• 發明（設計）人: 沈操;王浩
• 申請（專利權）人: 北京中星微電子有限公司
• 主分類號: G02B27/00
• 分類號: G02B27/00;G06T5/00
• 代理公司: 北京同達信恒知識產權代理有限公司
• 代理人: 黃志華

1.一種校正透鏡成像不均一性的方法，其特征在于，包括步驟：

獲取透鏡所成的扭曲圖像；

根據校正參數對扭曲圖像中各像素點的像素值進行操作，得到校正圖像，所述校正參數包括校正乘作用因子和校正加作用因子，是依據透鏡參數得到的，所述透鏡參數包括透鏡加作用因子和透鏡乘作用因子，透鏡加作用因子與透鏡的輸入圖像為零時輸出的黑圖像相等，透鏡乘作用因子是透鏡的輸入圖像為亮度均勻的白紙或灰紙時輸出的白圖像與所述黑圖像之差與常數k的商，校正加作用因子與透鏡加作用因子成負數關系，校正乘作用因子與透鏡乘作用因子成倒數關系；所述校正參數對扭曲圖像中各像素點的像素值進行操作通過公式Re(x，y)＝[Out(x，y)+Reoffset(x，y)]*[Regain(x，y)]實現，其中，Out(x，y)為所述扭曲圖像，Re(x，y)為所述校正圖像，Reoffset(x，y)為所述校正加作用因子，Regain(x，y)為所述校正乘作用因子。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法之前，進一步包括以下步驟：

提取透鏡參數，所述透鏡參數是由透鏡的特性決定的；

根據所得透鏡參數確定校正參數。

3.如權利要求2所述的方法，其特征在于，所述校正參數包括校正加作用因子和校正乘作用因子，所述根據所得透鏡參數確定校正參數的處理包括：對透鏡加作用因子取負數得到校正加作用因子，對透鏡乘作用因子取倒數得到校正乘作用因子。

4.如權利要求3所述的方法，其特征在于，所述常數k是白圖像中的最大值和黑圖像中的最小值的差值。

5.一種校正透鏡成像不均一性的裝置，其特征在于，包括：

存儲單元，用于儲存依據透鏡參數確定的校正參數，所述校正參數包括校正乘作用因子和校正加作用因子，所述透鏡參數包括透鏡加作用因子和透鏡乘作用因子，透鏡加作用因子與透鏡的輸入圖像為零時輸出的黑圖像相等，透鏡乘作用因子是透鏡的輸入圖像為亮度均勻的白紙或灰紙時輸出的白圖像與所述黑圖像之差與常數k的商，校正加作用因子與透鏡加作用因子成負數關系，校正乘作用因子與透鏡乘作用因子成倒數關系；

校正單元，用于根據所述校正參數對扭曲圖像中各像素點的像素值進行操作，得到校正圖像；所述校正參數對扭曲圖像中各像素點的像素值進行操作通過公式Re(x，y)＝[Out(x，y)+Reoffset(x，y)]*[Regain(x，y)]實現，其中，Out(x，y)為所述扭曲圖像，Re(x，y)為所述校正圖像，Reffset(x，y)為所述校正加作用因子，Regain(x，y)為所述校正乘作用因子。

6.如權利要求5所述的裝置，其特征在于，所述裝置進一步包括透鏡參數提取單元和參數轉換單元，其中：

所述透鏡參數提取單元，用于提取由透鏡的特性決定的透鏡參數；

所述參數轉換單元，用于對所述透鏡參數進行處理，輸出校正參數。

7.如權利要求6所述的裝置，其特征在于，所述透鏡參數提取單元，包括：

加作用因子提取單元，用于根據輸入的黑圖像提取透鏡加作用因子；

乘作用因子提取單元，用于根據輸入的黑圖像和白圖像提取透鏡乘作用因子。