[發明專利]一種存儲器輻照測試方法以及實現該方法的裝置有效
| 申請號： | 200710064298.2 | 申請日： | 2007-03-09 |
| 公開（公告）號： | CN101017193A | 公開（公告）日： | 2007-08-15 |
| 發明（設計）人： | 朱一明;韓飛 | 申請（專利權）人： | 北京芯技佳易微電子科技有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/26 | 分類號： | G01R31/26;G01R31/28;H01L21/66 |
| 代理公司： | 北京科龍寰宇知識產權代理有限責任公司 | 代理人： | 孫皓晨 |
| 地址： | 100084北京市*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 存儲器 輻照 測試 方法 以及 實現 裝置 | ||
【說明書】：
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